Благодаря увеличению кратности увеличения до 8:1 (1x-8x), SMZ800N обеспечивает простоту использования наряду с высокой четкостью изображения, необходимого для проверки электронных компонентов и анализа отказов.
Невероятная четкость изображения во всем широком диапазоне увеличения
Идеально подходит для исследований по анализу отказов, определения способов отказа и проверки решений. Исследование поверхности компонентов, обнаружение трещин, изучение коррозии, композитных материалов, текстиля, деталей, изготовленных на станках для критически важных аэрокосмических компонентов или строительных материалов - все это легко выполняется.
Nikon SMZ800N
Микроскоп, подходящий для материаловедения и промышленности. Для настольной или машинной интеграции. Возможно выполнение функций контроля качества для рутинных и критических приложений.
Лучший в своем классе коэффициент оптического увеличения 8:1
Благодаря лучшему в своем классе коэффициенту оптического увеличения 8:1 (1x-8x), SMZ800N превосходит диапазон увеличения, доступный в предыдущих моделях.
Лучший в своем классе оптический зум 8:1
Благодаря большому полю зрения, при сканировании большой площади при высоком увеличении не нужно беспокоить деталь или образец.
Высокое качество изображений
Удивительно четкие, яркие изображения с минимальной хроматической аберрацией во всем расширенном диапазоне увеличения благодаря исключительным объективам "Plan Apo WF" и "ED plan WF".
Широкий ассортимент аксессуаров
Широкий ассортимент аксессуаров, доступных для моделей исследовательских стереомикроскопов Nikon, также доступен для SMZ800N, включая цифровые визирные камеры Nikon.
---