video corpo

Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера APDIS MV4x0
переноснаядля крупных деталейкромка

Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка
Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка
Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка - изображение - 2
Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка - изображение - 3
Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка - изображение - 4
Система для трехмерного измерения с управлением от компьютера - APDIS MV4x0 - Nikon Metrology - переносная / для крупных деталей / кромка - изображение - 5
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Контроль-управление
с управлением от компьютера
Вид конструкции
переносная
Применение
для крупных деталей, для использования в автомобилях, для производства ветровой энергии, кромка, для цеха, для авиационной промышленности, для сложных деталей, для использования в промышленности, для контроля качества, для метрологии
Тип зондирования
оптическая, бесконтактная
Другие характеристики
высокоточная, автоматизированная, гибкая

Описание

Обзор
APDIS от Nikon — поколение Laser Radar, разработанное для быстрой, автоматизированной и бесконтактной инспекции. Система позволяет выполнять абсолютные и повторяемые измерения на расстоянии без ручных щупов, мишеней или подготовки поверхности, что упрощает автоматизацию проверок сложных, деликатных или труднодоступных деталей.

Автоматизированное бесконтактное измерение
Система фиксирует детали на расстоянии без физического контакта, исключая необходимость подготовки детали, мишеней или адаптеров. Подходит для автоматизации повторяющихся инспекционных задач на производстве, в мастерских и метрологических лабораториях.

Ключевые преимущества
  • Высокая производительность: быстрые автоматические измерения при минимальной подготовке повышают пропускную способность.
  • Гибкая установка: портативна и пригодна для использования на производственной площадке — абсолютные измерения возможны на месте или на линии.
  • Защита детали и оператора: лазерное измерение на дальнем расстоянии обеспечивает безопасную дистанцию между прибором, оператором и деталью.
  • Минимальная подготовка: гетеродинная интерферометрия позволяет измерять большинство поверхностей без мишеней и подготовки.


Применения
  • Автомобильная промышленность — абсолютные измерения признаков без подготовки деталей, для производства или метрологии.
  • Аэрокосмическая отрасль — автоматизация больших объёмов: шиммирование, проверка соединений и крупные узлы.
  • Энергетика — автоматизированный контроль и измерение крупных конструкций (например, компонентов ветроэнергетики).
  • Космос — бесконтактная инспекция деликатных, высокоотражающих и дорогих компонентов.


Сравнение моделей (выбранные строки)
MV430 | MV450 | MV430E | MV450E
Диапазон: 0,5 м до 30 м | 0,5 м до 50 м | 0,5 м до 30 м | 0,5 м до 50 м
Частота данных (все модели): 4000 Гц
Скорость сканирования (по умолчанию*): MV430/MV430E – 500 точ/с (≈2 с/см2) | MV450/MV450E – 1000 точ/с (≈1 с/см2)
Измерение признаков: MV430/MV430E – Standard Feature Scan | MV450/MV450E – Enhanced Feature Scan**
Измерение вибраций: MV450E – до 2000 Гц; чувствительность 1 µm/m (не для MV430)
Класс защиты (все): IP54

Рабочие пределы и ориентация
Рабочий диапазон: 0,5 м – 30 м / 50 м
Азимут: ±180° | Возвышение: ±45°

Точность (MPE)
MPE (база): 20 µm + 5 µm/m
Дополнительный угловой компонент: 13,6 µm/m

Точность измерения длины между 2 точками (сводка)
Формула (MPE µm): √(2(20 + 5·RAve)^2 + (13.6·RAve)^2), где RAve = средняя дальность в метрах.
Примеры (Средняя дальность → MPE / Типичная): 0,5 м → 33 µm / 17 µm; 1 м → 40 µm / 20 µm; 2 м → 57 µm / 28 µm; 5 м → 115 µm / 58 µm; 10 м → 216 µm / 108 µm; 20 м → 420 µm / 210 µm; 30 м → 625 µm / 313 µm.

Примечания
* Настройки по умолчанию — stacking 4, расстояние между точками 0,1 мм, расстояние между линиями 1 мм.
** Enhanced Feature Scan может в некоторых режимах измерять признаки до двух раз быстрее, чем стандартный режим; фактическая скорость зависит от настроек.

Технические характеристики
  • Семейство/модель: APDIS MV4x0 (MV430, MV450, MV430E, MV450E)
  • Принцип измерения: Laser Radar / гетеродинная интерферометрия (бесконтактно)
  • Диапазон: 0,5 м до 30 м / 50 м (в зависимости от модели)
  • Частота данных: 4000 Гц
  • Скорость сканирования: 500 точ/с (стандарт) или 1000 точ/с (E-модели)
  • Режимы измерения признаков: Standard / Enhanced Feature Scan
  • Измерение вибраций: до 2000 Гц (E-модели); чувствительность 1 µm/m
  • Уголовой диапазон: Азимут ±180°, Возвышение ±45°
  • Точность (MPE): 20 µm + 5 µm/m (база); дополнительный угловой коэффициент 13,6 µm/m
  • Класс защиты: IP54
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.