video corpo

Измерительная система критического размера NEXIV VMF-K series
расстоянияпространственнаяоптическая

Измерительная система критического размера - NEXIV VMF-K series - Nikon Metrology - расстояния / пространственная / оптическая
Измерительная система критического размера - NEXIV VMF-K series - Nikon Metrology - расстояния / пространственная / оптическая
Измерительная система критического размера - NEXIV VMF-K series - Nikon Metrology - расстояния / пространственная / оптическая - изображение - 2
Измерительная система критического размера - NEXIV VMF-K series - Nikon Metrology - расстояния / пространственная / оптическая - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Физическая величина
пространственная, расстояния, критического размера
Технология
оптическая, зрение, с камерой, с белым светом, видео, 3D, конфокальная
Измеренное изделие
для небольших деталей, для полупроводниковых пластин, для полупроводника
Место применения
для электроники, для производственной линии, для контроля качества
Другие характеристики
высокой точности, бесконтактная, высокоскоростная, высокое разрешение

Описание

Обзор
Серия NEXIV VMF-K компании Nikon — это конфокальная видеоизмерительная система, сочетающая высокоскоростную 2D‑съёмку и конфокальное измерение высоты (3D) в одном поле зрения. Система предназначена для процессов в полупроводниковой и прецизионной промышленности: инспекция probe‑карточек, wafer‑level packaging (WLP), производство подложек и измерения миниатюрных компонентов.

Ключевые преимущества
  • Повышенная производительность: примерно 1,5× увеличение пропускной способности по сравнению с предыдущими моделями при комбинированных 2D/высотных измерениях.
  • Одновременная 2D (bright‑field) съёмка и конфокальное измерение высоты в одном рабочем цикле, сокращение времени инспекции.
  • Конфокальный источник Green LED с длительным сроком службы (~30 000 часов) вместо ксенона для лучшей стабильности и удобства обслуживания.
  • Стабильные измерения на образцах с высоким контрастом, высокой отражающей способностью и на очень прозрачных/тонких образцах.
  • Поддержка измерений больших размеров (за пределами одного поля зрения) и координатных стратегий измерения.


Основные характеристики продукта
  • Интегрированная 2D оптика bright‑field с моторизованным 5‑ступенчатым зумом и конфокальным измерением высоты для тонких структур.
  • Стандартная высокомагнификационная головка 45× для ультра‑тонких полупроводниковых структур (< 2 µm).
  • Светодиодное освещение: White LED для bright‑field, Green LED для конфокальных высотных сканов.
  • Опции автофокуса: TTL Laser AF и Image AF.
  • Улучшенная удобство обслуживания: упрощённое снятие крышки головки и фронтальный светодиод состояния на головке.


Модели и области применения
Семейство NEXIV VMF-K охватывает разные ходы и производственные требования:
  • NEXIV VMF-K3040 — ходы XYZ: 300 × 400 × 150 мм — для средних ходов, например инспекция probe‑карт.
  • NEXIV VMF-K6555 — ходы XYZ: 650 × 550 × 150 мм — большая столовая ёмкость для подложек, больших пластин и крупных probe‑карт.


Типичные сценарии использования
  • Инспекция probe‑карт: одновременный захват 2D/высоты в одном поле зрения, повышенная пропускная способность и возможность измерений больших размеров.
  • Инспекция пластин и WLP: 45× объектив для измерения ультратонких признаков; конфокальная система для работы с отражающими и прозрачными слоями.
  • Производство подложек и QA прецизионных компонентов: надёжные измерения тонких/прозрачных образцов и координатные измерения на больших длинах.


Примечания по оптике и методике измерений
Система объединяет bright‑field 2D‑изображение и конфокальное сканирование высоты в едином рабочем процессе. Конфокальное сканирование поддерживает максимальную высоту 1 мм. Bright‑field оптика использует моторизованный 5‑ступенчатый зум для покрытия широкого диапазона полей зрения и увеличений. Конфокальный путь обеспечивает высокое разрешение по высоте и хорошую воспроизводимость, что важно для сложных 3D‑инспекций.

Технические характеристики (выдержка)
  • Название серии: NEXIV VMF-K Series
  • Опции измерительных головок: Standard head (Type-S), High-magnification head (Type-H), 45× High-magnification head
  • Оптические увеличения (примеры): 1.5×, 3.0×, 7.5×, 15×, 30×, 45×
  • Рабочие расстояния (примеры): 24 мм (1.5×/3.0×), 5 мм (7.5×/30×/45×), 20 мм (15×)
  • Макс. высота сканирования (конфокал): 1 мм
  • Поле зрения конфокала (примеры): 7.80×5.82 мм → 0.26×0.19 мм (зависит от головки/увеличения)
  • Повторяемость измерения высоты (2σ) примеры: 0.6 µm, 0.35 µm, 0.25 µm, 0.20 µm
  • Разрешение по высоте: тип. 0.025 µm; до 0.01 µm в режимах высокой точности
  • Источники света: Confocal = Green LED; Bright Field = White LED
  • Автофокус: TTL Laser AF и Image AF
  • Питание: AC 100–240 V ±10%, 50/60 Hz; потребление ≈ 3–5.5 A (зависит от конфигурации)
  • Примеры моделей и ходов: VMF-K3040 = 300×400×150 мм; VMF-K6555 = 650×550×150 мм
  • Гарантируемая нагрузка для точности: VMF-K3040 ≈ 20 кг; VMF-K6555 ≈ 30 кг
  • Минимальное считывание / цифровое разрешение: 0.01 µm
  • Рекомендуемая площадь установки (пример): VMF-K3040 ≈ 3150×3000 мм; VMF-K6555 ≈ 3200×3300 мм

ВИДЕО

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.