Оптический стереомикроскоп SMZ1270

для контроляучебныйпромышленный

Серия SMZ1270 превосходит стандартные требования к формированию изображений для наблюдения и регистрации мельчайших особенностей объектов. Она особенно подходит для материаловедения, промышленного производства и поточного управления процессами. Невероятная четкость изображения во всем широком диапазоне увеличения Идеально подходит для исследований по анализу отказов, определения способов разрушения и проверки решений. Исследование поверхности деталей, обнаружение трещин, изучение коррозии, композитных материалов, текстиля, деталей, изготовленных на станках для критических аэрокосмических компонентов или строительных материалов - все это легко выполняется. Nikon SMZ1270i и SMZ1270 Подходят для применения в материаловедении и промышленном производстве. Увеличенная кратность зума 12,7:1 сочетает простоту использования с превосходными оптическими характеристиками. Лучший в своем классе коэффициент оптического увеличения 12,7:1 Благодаря лучшему в своем классе коэффициенту оптического увеличения 12,7:1 (0,63x-8x), SMZ1270i и SMZ1270 охватывают широкий диапазон увеличения, значительно превосходящий предыдущие модели. Порт передачи данных SMZ1270i В модели SMZ1270i добавлен USB-интерфейс интеллектуального зума для передачи данных о положении устройства изменения увеличения, что позволяет программному обеспечению для обработки изображений выполнять автоматическую настройку калибровки измерений, изменяя их по мере изменения величины увеличения.