Метрологические системы для полупроводниковых пластин

... МЕТРОЛОГИЯ XRR и XRF для пластин размером до 200 мм Толщина, плотность, шероховатость и состав пленок на подложках Этот универсальный рентгеновский метрологический инструмент использует рентгеновскую флуоресценцию (XRF) и рентгеновскую ...

... Экономически эффективная альтернатива полностью автоматизированным системам измерения и контроля вафель Продукт может обеспечить измерение толщины и носовой части всех материалов пластин, включая кремний, арсенид галлия, фосфид индия ...

... Для контроля в процессе производства солнечных/фотоэлектрических пластин Многоканальный модуль измерения толщины, TTV и носовой части для внутрипроцессного контроля солнечных/фотоэлектрических пластин и других материалов. Особенности До ...

... Технология OCD Solutions оптимизирует все возможности и возможности подключения систем Atlas и IMPULSE для оптической метрологии критических размеров (OCD) Обзор продукции Технология OCD компании Onto Innovation предлагает мощное моделирование ...

... Доступная в настольной и автономной конфигурациях, система анализа пленки Nanopsec II замыкает цикл между инженерной и исследовательской деятельностью и конечным производственным использованием рецептов и алгоритмов анализа Обзор продукции Расширяя ...

... Интегрированная метрологическая платформа на базе передовой оптики и решений машинного обучения, сочетающая высокую чувствительность с высокой производительностью для CMP, осаждения, травления и литографии. Обзор продукции Система IMPULSE ...

... Интегрированная метрологическая платформа на базе передовой оптики и решений машинного обучения, сочетающая высокую чувствительность с высокой производительностью для CMP, осаждения, травления и литографии. Система IMPULSE+, являющаяся ...

... Серия Atlas à couches minces et OCD является средством метрологии для производства устройств FinFET, FET с затворным обходом (GAA), 3D NAND и DRAM. Благодаря расширению метрологических характеристик до уровня суб-ангстремной точности ...

... Серия Atlas для тонких пленок и ОКР является метрологическим инструментом для производства передовых FinFET, FET с обходным затвором (GAA), 3D NAND и современных DRAM устройств. Система Atlas XP+ представляет собой единую платформу для ...

... Серия IVS обеспечивает оптическое наложение и CD-метрию для рынков полупроводников, полупроводниковых соединений, силовых приборов, ВЧ, МЭМС и светодиодов. Системы обеспечивают превосходную производительность измерений с наложением и ...

... Пикосекундная ультразвуковая технология, или технология PULSE™, является отраслевым стандартом для метрологии металлических пленок. Система Echo™ является последним дополнением к семейству акустических метрологических продуктов Onto Innovation ...

... Метрологический инструмент QS1200 FTIR представляет собой настольную систему для контроля допинга, измерения толщины эпинефрина и других применений Обзор продукции Система QS1200 специально разработана для передовых полупроводниковых ...

... неразрушающий анализ пластин Обзор продукции Система QS2200 представляет собой метрологический инструмент FTIR, специально разработанный для неразрушающего анализа пластин. Применяется для характеризации и измерения полупроводниковых ...

... Метрологическое решение MESO Метрологическая система MESO - это универсальное решение многих задач оптической метрологии. Измерения в цехах обеспечивают контроль качества и технологический контроль плоской оптики непосредственно у производственной ...

... EV Group привносит высокоскоростную высокоточную метрологию в трехмерную гетерогенную интеграцию EVG®40 NT2 предлагает революционную метрологическую производительность для ускорения внедрения гибридного склеивания на уровне пластин и ...