Метрологическая система для полупроводников QS1200™для полупроводниковой пластины
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- для полупроводниковой пластины, для полупроводников
Описание
Метрологический инструмент QS1200 FTIR представляет собой настольную систему для контроля допинга, измерения толщины эпинефрина и других применений
Обзор продукции
Система QS1200 специально разработана для передовых полупроводниковых заводов, выполняющих характеризацию материалов в областях выращивания кремния и производства устройств. Он обеспечивает новый уровень интеграции технологии FTIR с использованием проверенной оптической технологии, а также ручной лоток для установки стандартных SEMI пластин диаметром 100, 125, 150, 200 и 300 мм. В системе QS1200 можно также использовать куски пластин нечетной формы и кусочки кремния толщиной 2 мм.
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Onto Innovation Inc.Другие изделия Onto Innovation Inc.
Epi Thickness & Composition
Расширенный поиск
- Тестер
- Толщиномер
- Тестер для промышленности
- Автоматический тестер
- Тестер непрерывности
- Тестер сопротивление
- Толщиномер с цифровым индикатором
- Универсальный тестер
- Тестер рабочих характеристик
- Стационарный толщиномер
- Толщиномер с автоматической калибровкой
- Тестер тока утечки
- Тестер с управлением от компьютера
- Толщиномер для пленки
- Метрологическая система
- Бесконтактный толщиномер
- Тестер для электронной платы
- Метрологическая система для полупроводниковой пластины
- Метрологическая система для полупроводников
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.