Метрологическая система для полупроводниковой пластины QS2200™для полупроводников
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- для полупроводниковой пластины, для полупроводников
Описание
неразрушающий анализ пластин
Обзор продукции
Система QS2200 представляет собой метрологический инструмент FTIR, специально разработанный для неразрушающего анализа пластин. Применяется для характеризации и измерения полупроводниковых материалов, а также для изготовления приборов.
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Onto Innovation Inc.Другие изделия Onto Innovation Inc.
Epi Thickness & Composition
Расширенный поиск
- Тестер
- Толщиномер
- Тестер для промышленности
- Автоматический тестер
- Тестер непрерывности
- Тестер сопротивление
- Толщиномер с цифровым индикатором
- Универсальный тестер
- Тестер рабочих характеристик
- Толщиномер с автоматической калибровкой
- Стационарный толщиномер
- Тестер тока утечки
- Тестер с управлением от компьютера
- Толщиномер для пленки
- Метрологическая система
- Бесконтактный толщиномер
- Метрологическая система для полупроводниковой пластины
- Тестер для электронной платы
- Метрологическая система для полупроводников
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.