＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Экономически эффективная альтернатива полностью автоматизированным системам измерения и контроля вафель Продукт может обеспечить измерение толщины и носовой части всех материалов пластин, включая кремний, арсенид галлия, фосфид индия ...
... Интегрированная метрологическая платформа на базе передовой оптики и решений машинного обучения, сочетающая высокую чувствительность с высокой производительностью для CMP, осаждения, травления и литографии. Обзор продукции Система IMPULSE ...
Onto Innovation Inc.
... Серия Atlas для тонких пленок и ОКР является метрологическим инструментом для производства передовых FinFET, FET с обходным затвором (GAA), 3D NAND и передовых DRAM устройств. Новая метрологическая система Atlas V предназначена для измерения ...
Onto Innovation Inc.
... Новая метрологическая система Aspect представляет собой революционную оптическую платформу, предназначенную для решения текущих и будущих задач передовых устройств 3D NAND. Обзор продукции Плотность памяти увеличивается как при масштабировании ...
Onto Innovation Inc.
... Серия IVS обеспечивает оптическое наложение и CD-метрию для рынков полупроводников, полупроводниковых соединений, силовых приборов, ВЧ, МЭМС и светодиодов. Системы обеспечивают превосходную производительность измерений с наложением и ...
Onto Innovation Inc.
... Серия инструментов Iris, включающая модели Iris C1, T1 и R1, позволяет контролировать процессы в широком диапазоне применений в крупносерийном производстве с превосходными характеристиками и стоимостью владения. Обзор продукции Серия ...
Onto Innovation Inc.
... Пикосекундная ультразвуковая технология, или технология PULSE™, является отраслевым стандартом для метрологии металлических пленок. Система Echo™ является последним дополнением к семейству акустических метрологических продуктов Onto Innovation ...
Onto Innovation Inc.
... Система RPMBlue - это фотолюминесцентный (PL) картограф, который может удовлетворить потребности практически всех пользователей сложных полупроводниковых приборов. Обзор продукции Система RPMBlue предназначена для обеспечения точной, ...
Onto Innovation Inc.
... Метрологический инструмент QS1200 FTIR представляет собой настольную систему для контроля допинга, измерения толщины эпинефрина и других применений Обзор продукции Система QS1200 специально разработана для передовых полупроводниковых ...
Onto Innovation Inc.
... неразрушающий анализ пластин Обзор продукции Система QS2200 представляет собой метрологический инструмент FTIR, специально разработанный для неразрушающего анализа пластин. Применяется для характеризации и измерения полупроводниковых ...
Onto Innovation Inc.
... Метрологическое решение MESO Метрологическая система MESO - это универсальное решение многих задач оптической метрологии. Измерения в цехах обеспечивают контроль качества и технологический контроль плоской оптики непосредственно у производственной ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось