- Метрология - Лабораторное дело >
- Метрология и Испытания >
- Метрологическая система для полупроводников
Метрологические системы для полупроводников
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Метрологические системы для ионной имплантации/отжига Therma-Probe® позволяют осуществлять мониторинг дозы имплантации в режиме реального времени для ряда полупроводниковых технологий, включая устройства с усовершенствованными узлами проектирования и ...
... Интегрированная метрологическая платформа на базе передовой оптики и решений машинного обучения, сочетающая высокую чувствительность с высокой производительностью для CMP, осаждения, травления и литографии. Обзор продукции Система IMPULSE V В условиях ...
Onto Innovation Inc.
... Серия Atlas для тонких пленок и ОКР является метрологическим инструментом для производства передовых FinFET, FET с обходным затвором (GAA), 3D NAND и передовых DRAM устройств. Новая метрологическая система Atlas V предназначена для измерения нескольких ...
Onto Innovation Inc.
... Новая метрологическая система Aspect представляет собой революционную оптическую платформу, предназначенную для решения текущих и будущих задач передовых устройств 3D NAND. Обзор продукции Плотность памяти увеличивается как при масштабировании пар слоев, ...
Onto Innovation Inc.
... Серия IVS обеспечивает оптическое наложение и CD-метрию для рынков полупроводников, полупроводниковых соединений, силовых приборов, ВЧ, МЭМС и светодиодов. Системы обеспечивают превосходную производительность измерений с наложением и измерением КД в одном ...
Onto Innovation Inc.
... Серия инструментов Iris, включающая модели Iris C1, T1 и R1, позволяет контролировать процессы в широком диапазоне применений в крупносерийном производстве с превосходными характеристиками и стоимостью владения. Обзор продукции Серия Iris предназначена ...
Onto Innovation Inc.
... Пикосекундная ультразвуковая технология, или технология PULSE™, является отраслевым стандартом для метрологии металлических пленок. Система Echo™ является последним дополнением к семейству акустических метрологических продуктов Onto Innovation и призвана ...
Onto Innovation Inc.
... Система RPMBlue - это фотолюминесцентный (PL) картограф, который может удовлетворить потребности практически всех пользователей сложных полупроводниковых приборов. Обзор продукции Система RPMBlue предназначена для обеспечения точной, точной и надежной ...
Onto Innovation Inc.
... Метрологический инструмент QS1200 FTIR представляет собой настольную систему для контроля допинга, измерения толщины эпинефрина и других применений Обзор продукции Система QS1200 специально разработана для передовых полупроводниковых заводов, выполняющих ...
Onto Innovation Inc.
... неразрушающий анализ пластин Обзор продукции Система QS2200 представляет собой метрологический инструмент FTIR, специально разработанный для неразрушающего анализа пластин. Применяется для характеризации и измерения полупроводниковых материалов, а также ...
Onto Innovation Inc.
... Экономически эффективная альтернатива полностью автоматизированным системам измерения и контроля вафель Продукт может обеспечить измерение толщины и носовой части всех материалов пластин, включая кремний, арсенид галлия, фосфид индия и сапфир или ленту Особенности ...
... Метрологическое решение MESO Метрологическая система MESO - это универсальное решение многих задач оптической метрологии. Измерения в цехах обеспечивают контроль качества и технологический контроль плоской оптики непосредственно у производственной линии. Уникальный ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo