Метрологические системы для полупроводников

4 компании | 12 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
Therma-Probe®

... Метрологические системы для ионной имплантации/отжига Therma-Probe® позволяют осуществлять мониторинг дозы имплантации в режиме реального времени для ряда полупроводниковых технологий, включая устройства с усовершенствованными узлами проектирования и ...

метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
IMPULSE V

... Интегрированная метрологическая платформа на базе передовой оптики и решений машинного обучения, сочетающая высокую чувствительность с высокой производительностью для CMP, осаждения, травления и литографии. Обзор продукции Система IMPULSE V В условиях ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
Atlas V

... Серия Atlas для тонких пленок и ОКР является метрологическим инструментом для производства передовых FinFET, FET с обходным затвором (GAA), 3D NAND и передовых DRAM устройств. Новая метрологическая система Atlas V предназначена для измерения нескольких ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
Aspect®

... Новая метрологическая система Aspect представляет собой революционную оптическую платформу, предназначенную для решения текущих и будущих задач передовых устройств 3D NAND. Обзор продукции Плотность памяти увеличивается как при масштабировании пар слоев, ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
IVS series

... Серия IVS обеспечивает оптическое наложение и CD-метрию для рынков полупроводников, полупроводниковых соединений, силовых приборов, ВЧ, МЭМС и светодиодов. Системы обеспечивают превосходную производительность измерений с наложением и измерением КД в одном ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
Iris™ series

... Серия инструментов Iris, включающая модели Iris C1, T1 и R1, позволяет контролировать процессы в широком диапазоне применений в крупносерийном производстве с превосходными характеристиками и стоимостью владения. Обзор продукции Серия Iris предназначена ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
Echo™

... Пикосекундная ультразвуковая технология, или технология PULSE™, является отраслевым стандартом для метрологии металлических пленок. Система Echo™ является последним дополнением к семейству акустических метрологических продуктов Onto Innovation и призвана ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
RPMBlue™

... Система RPMBlue - это фотолюминесцентный (PL) картограф, который может удовлетворить потребности практически всех пользователей сложных полупроводниковых приборов. Обзор продукции Система RPMBlue предназначена для обеспечения точной, точной и надежной ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводников
метрологическая система для полупроводников
QS1200™

... Метрологический инструмент QS1200 FTIR представляет собой настольную систему для контроля допинга, измерения толщины эпинефрина и других применений Обзор продукции Система QS1200 специально разработана для передовых полупроводниковых заводов, выполняющих ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
QS2200™

... неразрушающий анализ пластин Обзор продукции Система QS2200 представляет собой метрологический инструмент FTIR, специально разработанный для неразрушающего анализа пластин. Применяется для характеризации и измерения полупроводниковых материалов, а также ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
Proforma 300i

... Экономически эффективная альтернатива полностью автоматизированным системам измерения и контроля вафель Продукт может обеспечить измерение толщины и носовой части всех материалов пластин, включая кремний, арсенид галлия, фосфид индия и сапфир или ленту Особенности ...

метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
MESO™

... Метрологическое решение MESO Метрологическая система MESO - это универсальное решение многих задач оптической метрологии. Измерения в цехах обеспечивают контроль качества и технологический контроль плоской оптики непосредственно у производственной линии. Уникальный ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки