Метрологическая система для полупроводниковой пластины PV-1000 series

Для контроля в процессе производства солнечных/фотоэлектрических пластин Многоканальный модуль измерения толщины, TTV и носовой части для внутрипроцессного контроля солнечных/фотоэлектрических пластин и других материалов. Особенности До трех каналов измерения толщины на стойку Запатентованные емкостные датчики MTII push/pull работают со всеми типами пластин Измерение минимального, максимального, среднего и общего отклонения толщины Измерение лука (требуется 3 пары датчиков) Встроенная электроника для сбора данных и управления Коммуникационные порты Fast Ethernet для скорости производства до 5 пластин в секунду Масштабируемость для увеличения количества сканирований линий толщины Цифровые входы/выходы для сопряжения с существующим оборудованием для обработки пластин Управляющая программа на базе Windows® для локального или удаленного мониторинга данных Пакет DLL на базе Windows® для интеграции с существующими ПК управления Доступны стандартные и нестандартные размеры датчиков О фотоэлектрической/солнечной метрологической системе Многоканальный модуль измерения толщины, TTV и носовой части для контроля в процессе производства солнечных/фотоэлектрических пластин и других материалов.