Метрологическая система для полупроводниковой пластины PV-1000 series

метрологическая система для полупроводниковой пластины
метрологическая система для полупроводниковой пластины
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
для полупроводниковой пластины

Описание

Для контроля в процессе производства солнечных/фотоэлектрических пластин Многоканальный модуль измерения толщины, TTV и носовой части для внутрипроцессного контроля солнечных/фотоэлектрических пластин и других материалов. Особенности До трех каналов измерения толщины на стойку Запатентованные емкостные датчики MTII push/pull работают со всеми типами пластин Измерение минимального, максимального, среднего и общего отклонения толщины Измерение лука (требуется 3 пары датчиков) Встроенная электроника для сбора данных и управления Коммуникационные порты Fast Ethernet для скорости производства до 5 пластин в секунду Масштабируемость для увеличения количества сканирований линий толщины Цифровые входы/выходы для сопряжения с существующим оборудованием для обработки пластин Управляющая программа на базе Windows® для локального или удаленного мониторинга данных Пакет DLL на базе Windows® для интеграции с существующими ПК управления Доступны стандартные и нестандартные размеры датчиков О фотоэлектрической/солнечной метрологической системе Многоканальный модуль измерения толщины, TTV и носовой части для контроля в процессе производства солнечных/фотоэлектрических пластин и других материалов.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги MTI Instruments
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.