- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для испытания материалов >
- Thermo Fisher Scientific
Микроскопы для испытания материалов Thermo Fisher Scientific
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g
... сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) - даже для самых сложных образцов. Helios 5 DualBeam переопределяет стандарты в области получения изображений высокого разрешения с высоким ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 10, 3 nm
... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 515, 1 030 nm
... визуализацией SEM (сканирующая электронная микроскопия). Эта комбинация "TriBeam" позволяет получать изображения высокого разрешения и проводить анализ с возможностью абляции in situ, обеспечивая беспрецедентную ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 2, 5, 1, 4, 20 µm
... металлы, батареи, волокнистые композиты и биологические ткани. Отличные результаты начинаются с подготовки образцов, независимо от того, проводите ли вы подготовку образцов для сканирующей просвечивающей электронной микроскопии ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Вес: 5 kg
... электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерной характеризации. Thermo Scientific Scios 2 DualBeam - это аналитическая система сканирующей ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп для визуализации и спектроскопии чувствительных к пучку материалов. Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultra Чтобы ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,06, 0,11, 0,16 nm
... Высокопроизводительный микроскоп TEM и STEM для всех задач материаловедения. Для того чтобы ученые могли лучше понять сложные образцы и разработать инновационные материалы, они должны иметь доступ к ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,05, 0,07, 0,06, 0,1, 0,14 nm
... Микроскоп высокого разрешения TEM и STEM для всех задач материаловедения и полупроводников. Для того чтобы ученые могли лучше понять сложные образцы и разработать инновационные материалы, они должны ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,14, 0,16 nm
... динамических наблюдений. Thermo Scientific Talos F200i (S)TEM - это полевой эмиссионный (сканирующий) просвечивающий электронный микроскоп с напряжением 20-200 кВ, уникальный по своим характеристикам и производительности ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось