video corpo

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU5000
для анализов3Dна месте

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для анализов
Метод наблюдения
BF-STEM, 3D, DF-STEM, на месте
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Опции и аксессуары
автоматизированный
Другие характеристики
для нанотехнологии, высокое разрешение, автоматизированный, сканирующий, с переменным давлением, для плоских проб, для полированных образцов, для топографии, для определения асбеста, для одновременного приема, для наук о Земле, со значительным увеличением
Пространственное разрешение

1,2 nm

Описание

Инновационный аналитический FE-SEM обеспечивает простой переход между режимом высокого вакуума и переменного давления. EM Wizard - это основанная на знаниях система для визуализации РЭМ, которая выходит за рамки базовых предустановленных условий и рецептов. Простота ее использования открывает новые ворота для исследования материалов, развития и области, превосходящей наше воображение. SU5000 FE-SEM навсегда изменил работу РЭМ. Новаторская технология компьютерной поддержки от Hitachi, называемая EM Wizard, предлагает новый уровень работы и управления РЭМ. Эксперт или новичок, результат теперь один: высочайшее качество наномасштабных изображений у каждого под рукой! - Новый, революционный пользовательский интерфейс EM Wizard обеспечивает всем пользователям оптимальные уровни разрешения, воспроизводимости и производительности. С помощью EM Wizard новички в одночасье становятся экспертами. - Технология автоматической регулировки осей (автокалибровка) возвращает микроскоп в его "наилучшее состояние" по требованию. - Прочная "выдвижная" камера для образцов вмещает большие образцы (-200 ммφ, -80 ммH). - Быстрая замена образца с эвакуацией до наблюдения за 3 минуты или менее. - Автоматизированная, интуитивно понятная оптимизация изображений "на лету". - Визуальное и интерактивное руководство предлагает "выбрать" режимы SEM для обеспечения наилучших условий работы. - С помощью инструмента 3D MultiFinder образцы легко наклоняются и поворачиваются, при этом изображение остается в центре и в фокусе. Информация о множественных углах с помощью недавно разработанного кольцевого детектора электронов обратного рассеяния (BSD) позволяет одновременно получать топографическую и композиционную информацию.

---

ВИДЕО

Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.