Промышленные микроскопы Nikon Metrology

1 Компания | 6 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп поляризатор
микроскоп поляризатор
ECLIPSE LV100N POL

Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm

... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse LV100NDA

Вес: 8,6 kg

... анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE LV100NDA ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse LV100ND

Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm

... анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE LV100NDA ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
ECLIPSE MA200

Увеличение : 1 unit - 100 unit
Длина: 295 mm
Ширина: 215 mm

... анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE MA200 Инвертированный ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
Eclipse MA100N

Вес: 10 kg
Длина: 552 mm
Ширина: 229 mm

... модульный инвертированный микроскоп для эпископических методов оптического контраста в сочетании с аксессуарами для цифровых камер обработки изображений. Он идеально подходит для контроля металлургических материалов во ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse Ci-POL

Увеличение : 5 unit - 100 unit
Вес: 14 kg
Длина: 271 mm

... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки