Микроскоп AFM Nexus AFM

для исследованийпромышленныйнаноскоп

Dimension Nexus™ обеспечивает идеальное сочетание качества данных, гибкости экспериментов и простоты использования в малогабаритной системе. В нем реализованы важнейшие инновации контроллера NanoScope® 6 от Bruker и технологии PeakForce Tapping®, что обеспечивает большую функциональность по сравнению с конкурирующими системами в своем классе. Dimension Nexus подходит как для рутинных, так и для пользовательских экспериментов и легко модернизируется в полевых условиях, являясь одновременно отличной стартовой системой и прекрасным дополнением к любой процветающей лаборатории АСМ. Лучший в своем классе производительность Позволяет получать изображения с атомным и молекулярным разрешением. Предельная универсальность и ценность Обеспечивает широкий спектр режимов АСМ. Программируемый моторизованный столик Повышает производительность для получения результатов, готовых к публикации. Характеристики Обеспечивает основную производительность и ценность при каждом сканировании Nexus стабильно генерирует высокоточные, воспроизводимые, готовые к публикации результаты для широкого спектра типов образцов в исследовательских и промышленных приложениях. Обеспечение высокой производительности Центральным элементом лучших в своем классе возможностей этой системы является уникальное сочетание передового оборудования, программного обеспечения и аксессуаров, включая: Полный набор режимов PeakForce Tapping для получения изображений высочайшего разрешения и количественного картирования механических, электрических и химических свойств на самом широком спектре образцов Контроллер NanoScope 6 последнего поколения с минимальным уровнем шума, высочайшей скоростью и максимальной универсальностью для непревзойденных возможностей и простоты использования Сканер с замкнутым циклом XYZ, мостовая конструкция с компенсацией дрейфа и интегрированное гранитное основание для работы с малыми образцами на АСМ с открытым доступом и большими образцами Самый большой выбор специализированных АСМ-зондов, оптимизированных для конкретных режимов и образцов