Микроскопы для лабораторий Tescan

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

микроскоп SEMVEGA

для анализов для исследований для контроля

микроскоп SEM

VEGA

... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN VEGA с источником электронов на основе вольфрамовой нити сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ компании TESCAN VEGA визуализацию СЭМ ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп SEMMIRA

для контроля качества для исследований для проверки материалов

микроскоп SEM

MIRA

... упрощает получение как морфологических, так и элементарных данных из образца, делая MIRA SEM эффективным аналитическим решением для рутинного контроля материалов в лабораториях контроля качества, анализа ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп SEMTIMA

для анализов промышленный спектральный

микроскоп SEM

TIMA

... TESCAN TIMA - это специализированное решение для автоматизированного минералогического анализа, необходимого для изучения наук о Земле и промышленной переработки минералов. Уже в четвертом поколении TESCAN TIMA отличается повышенной простотой ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп FIB/SEMAMBER X

для анализов in-lens SE модульный

микроскоп FIB/SEM

AMBER X

... Уникальное сочетание плазменного FIB и не полевого UHR FE-SEM для многомасштабной характеризации материалов - Высокая производительность, большая площадь обработки FIB до 1 мм - подготовка микрообразца без галактики - Сверхвысокое разрешение, ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп FIB/SEMAMBER

для анализов для испытания материалов высокой точности

микроскоп FIB/SEM

AMBER

... возможностей в области исследований материалов - Высокоточная микро пробоподготовка - Сверхвысокое разрешение безполевого изображения SEM и наноанализа - Расширенное поле зрения и удобная навигация - Многосайтовая автоматизация ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп FIB/SEMSOLARIS

для исследований высокой точности ультравысокое разрешение

микроскоп FIB/SEM

SOLARIS

... Усовершенствованный верстак для нанопроизводства для вашей исследовательской лаборатории - Отличное ультра-высокое разрешение изображения SEM - Лучшее разрешение колонки Ga FIB - Высокоточный наноразмерный ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп FIB/SEMAMBER cryo

для лабораторий

микроскоп FIB/SEM

AMBER cryo

... погружаемых замороженных образцов - Совместимое решение со всеми крио-TEM на рынке - Отличная производительность изображения SEM при очень низком напряжении кВ - Счет криопользователя с определенным проектом DrawBeam™, ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

микроскоп FIB/SEMSOLARIS X

для анализов высокое разрешение ультравысокое разрешение

микроскоп FIB/SEM

SOLARIS X

... Плазменная платформа Plasma FIB-SEM для глубокого сечения и конечного оборудования с наивысшим разрешением для анализа отказов на уровне пакетов - Бескорпусное поперечное сечение больших площадей для анализа физических отказов передовых ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
Tescan GmbH

{{product.productLabel}} {{product.model}}