Оптический прибор для контроля BM310B

для полупроводникадля электронной промышленности

BM310B в основном применяется для визуального контроля полупроводниковых дискретных устройств, интегральных схем и светодиодов и позволяет измерять размеры кристаллов, проволок, AI-лент, зажимов и соединений, а также выявлять их дефекты. Размер лидфрейма 25–100 мм Частота ложных срабатываний ≤0,05 % Точность измерения и обнаружения Завоевал признание клиентов благодаря высокой точности обнаружения и надёжной интеграции в автоматизированные системы Превосходная точность Точность контроля ±3 мкм при 3σ Высокая производительность ≥30 тыс. для изделий в корпусе DFN Широкая совместимость Поддерживает контроль изделий с проволокой из Au/Cu/Al; предназначена для полупроводниковой и светодиодной отраслей Высокая надёжность Алгоритмы искусственного интеллекта позволяют достичь уровня ложных срабатываний ≤0,05%