Микроскоп TEM JEM-ARM300F2

для лабораторийнапольныйс холодной полевой эмиссией

Выпущен новый электронный микроскоп с атомным разрешением! Модель "GRAND ARM™2" была модернизирована. Новый "GRAND ARM™2" позволяет проводить наблюдения с ультравысоким пространственным разрешением и высокочувствительный анализ в широком диапазоне ускоряющих напряжений. Новая разработанная полюсная деталь объектива FHP2 Полюсная часть объектива FHP оптимизирована для наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением. Сохраняя эту возможность, форма полюсной части была дополнительно оптимизирована для рентгеновского телесного угла и угла захвата крупногабаритных двойных SDD (158 мм2). В результате эффективность обнаружения рентгеновского излучения FHP2 более чем в два раза превышает чувствительность FHP. Он может обеспечить суб-ангстремное разрешение элементных карт EDS. Новый корпус Колонна TEM закрыта корпусом коробчатого типа, который может уменьшить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, поток воздуха, акустический шум и т.д., а также улучшить стабильность микроскопа. Корректор ETA и JEOL COSMO™ быстрая и точная коррекция аберраций JEOL COSMO™ использует только 2 ронхиграммы, полученные с любой аморфной области, для измерения и коррекции аберраций. Таким образом, система может обеспечить быструю и точную коррекцию аберраций без специальных образцов. Улучшение стабильности Новая электронная пушка CFEG (Cold Field Emission electron Gun) приняла меньший SIP с большим объемом эвакуации, чем раньше для GRAND ARM™2. Увеличение эвакуационного объема SIP улучшает степень вакуума вблизи эмиттера внутри CFEG, а также улучшает стабильность эмиссии и токов зонда. Миниатюризация SIP позволяет уменьшить общую массу CFEG на ~100 кг.