Автоматическая система подготовки образца EM-09100IS Ion Slicer™

для SEM

Инновационный метод подготовки образцов для TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER Ion Slicer позволяет готовить тонкопленочные образцы без растворителей или химикатов и не требует предварительной обработки образца, кроме прямоугольной нарезки (без шлифовки диска или ямочного шлифования). Ion Slicer готовит тонкопленочные образцы быстрее и проще, чем обычные инструменты для подготовки. Низкоэнергетический ионный пучок Ar с малым углом облучения облучает образец, а тонкий защитный пояс позволяет облучать пучок ионов Ar под малым углом (от 0° до 6°), резко снижая повреждение образца ионным пучком. В результате получается высококачественная тонкая пленка с небольшим количеством артефактов напыления - даже на мягких материалах. Ion Slicer может эффективно готовить тонкие пленки из образцов различного состава, даже из пористых композитов. Основные возможности включают: - Высококачественная предварительная обработка ТЭМ - Быстрая подготовка - Отсутствие сложных предварительных обработок - Минимальное повреждение поверхности