- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для полупроводника >
- Nikon Metrology
Микроскопы для полупроводников Nikon Metrology
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Увеличение : 1 unit - 10 unit
... Полностью моторизованный цифровой микроскоп DSX2000 упрощает задачи, повышает производительность и оптимизирует работу исследователей и специалистов лабораторий контроля качества благодаря интеллектуальным инструментам, ...

Пространственное разрешение: 1 µm
... компоненты, необходимые для адаптации системы к конкретным условиям применения. Эти эргономичные и удобные в использовании микроскопы помогают увеличить производительность, сохраняя при этом комфорт инспекторов при выполнении ...


электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 ...


микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)HEM6000
Увеличение : 66 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,3 nm
Длина: 1 716 mm
... Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для получения поперечных изображений образцов большого объема CIQTEK HEM6000 использует такие технологии, как высокояркая электронная пушка с большим пучком тока, высокоскоростная ...

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным ...

... для проведения многочисленных анализов. Инвертированный микроскоп начального уровня для общего назначения для испытаний на твердость. Инвертированный микроскоп для промышленности и материаловедения, ...

Увеличение : 10 unit - 5 480 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 3 nm
Особенности JSM-IT800 включает в себя нашу «автоэмиссионную электронную пушку Шоттки Плюс в объективе» для визуализации с высоким разрешением для быстрого картирования элементов и инновационную электронно-оптическую систему управления ...

... SAM 400 - это высокопроизводительный инструмент, позволяющий проводить неразрушающие акустические исследования для специального высокопроизводительного анализа, контроля качества и исследовательских приложений. Он оснащен новым высокоскоростным ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH

... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется ...

... высококачественным объективам с большим рабочим расстоянием. - Идеально подходит для использования в качестве микроскопа на станциях для обработки полупроводников. - Модели L- и L4 поддерживают ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось