Микроскопы для полупроводников Nikon Metrology

9 компании | 14 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
DSX2000

Увеличение : 1 unit - 10 unit

... Полностью моторизованный цифровой микроскоп DSX2000 упрощает задачи, повышает производительность и оптимизирует работу исследователей и специалистов лабораторий контроля качества благодаря интеллектуальным инструментам, ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
MX63 series

Пространственное разрешение: 1 µm

... компоненты, необходимые для адаптации системы к конкретным условиям применения. Эти эргономичные и удобные в использовании микроскопы помогают увеличить производительность, сохраняя при этом комфорт инспекторов при выполнении ...

электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены ...

микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
HF5000

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 ...

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
HEM6000

Увеличение : 66 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,3 nm
Длина: 1 716 mm

... Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для получения поперечных изображений образцов большого объема CIQTEK HEM6000 использует такие технологии, как высокояркая электронная пушка с большим пучком тока, высокоскоростная ...

оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
MVM

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным ...

металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
DS series

... для проведения многочисленных анализов. Инвертированный микроскоп начального уровня для общего назначения для испытаний на твердость. Инвертированный микроскоп для промышленности и материаловедения, ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-IT800 series

Увеличение : 10 unit - 5 480 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 3 nm

Особенности JSM-IT800 включает в себя нашу «автоэмиссионную электронную пушку Шоттки Плюс в объективе» для визуализации с высоким разрешением для быстрого картирования элементов и инновационную электронно-оптическую систему управления ...

микроскоп для анализов
микроскоп для анализов
SAM 400

... SAM 400 - это высокопроизводительный инструмент, позволяющий проводить неразрушающие акустические исследования для специального высокопроизводительного анализа, контроля качества и исследовательских приложений. Он оснащен новым высокоскоростным ...

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
оптический микроскоп
оптический микроскоп
ZTX-S series

... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
FS series

... высококачественным объективам с большим рабочим расстоянием. - Идеально подходит для использования в качестве микроскопа на станциях для обработки полупроводников. - Модели L- и L4 поддерживают ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки