＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... области SEM Увеличьте пропускную способность FIB Оцените лучшее 3D-разрешение при проведении FIB-SEM-анализа Максимизируйте свои знания в области РЭМ Извлеките достоверную информацию об ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... компромиссы при получении изображений высокого разрешения - перейдите на низкие напряжения и получите преимущества улучшенного разрешения и контрастности при напряжении 1 кВ и ниже. Выполняйте ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... интеллектуальной микроскопией для получения быстрых и надежных результатов. Для автоматизации рабочего процесса выберите моторизованный Axiovert 7. Откройте для себя интеллектуальную микроскопию Axiovert ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Микроскоп Axio Zoom.V16 с осевым зумом обеспечивает высокое разрешение и 16-кратное увеличение. Плавно переходите от обзора к рассмотрению мельчайших деталей - благодаря большому свободному ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... лучшим в отрасли разрешением и контрастом. пространственное разрешение 500 нм с RaaD герметичный источник 25 Вт с быстрой активацией Режим FAST с поддержкой FPX ZEISS Xradia ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... единственного прибора, который заполняет пробел между рентгеновскими микроскопами с субмикронным разрешением (такими как ZEISS Xradia Versa) и 3D-изображениями с более высоким разрешением, ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Xradia Context® - это простая в использовании система для анализа всех типов образцов. Детектор с высокой решеткой обеспечивает высокое разрешение мелких деталей даже при относительно ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось