Микроскопы высокое разрешение Jeol

1 Компания | 8 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-3300

«Быстрая и простая в эксплуатации, позволяющая получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-ARM300F2

Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-IT710HR

... серии JEOL HR*, основанная на теме «РЭМ, которая позволяет любому легко получать изображения с высоким разрешением». JSM-IT710HR заставляет пользователей хотеть выйти за рамки того, что они уже видели, ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
JIB-PS500i

... беспрепятственно подготовить образцы для ПЭМ. ВЫСОКОЕ РАЗРЕШЕНИЕ И ВЫСОКОКОНТРАСТНАЯ РЭМ-визуализация Перестаньте колебаться, перестаньте упускать конечную точку при фрезеровании. Высококачественные ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
JEM-F200

Пространственное разрешение: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm

JEM-F200 — это новый трансмиссионный электронный микроскоп с автоэлектронной эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками, ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-1400Flash

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,14, 0,2 nm

... потребность в более простых этапах наблюдения для получения данных изображений с более высокой пропускной способностью. Чтобы удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
miXcroscopy™

... электронного микроскопа, чтобы наблюдать тонкие структуры при большем увеличении. более высокое разрешение. Цели наблюдения, обнаруженные с помощью оптического микроскопа, ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
JIB-4700F

Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 1,6, 1,2 nm

... наблюдения с высоким разрешением и быстрый анализ. В колонке FIB для измельчения и обработки образцов с помощью быстрых ионов используется пучок ионов Ga с высокой плотностью тока и максимальным ...

Показать другие изделия
Jeol
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки