Микроскопы для наблюдения Jeol
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

... получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется на наблюдении за чувствительными к электронному лучу образцами, ...
Jeol

Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением ...
Jeol

... что они уже видели, благодаря простоте эксплуатации с улучшенными автоматическими функциями и улучшенными характеристиками наблюдения благодаря новому детектору. *HR=высокое разрешение
Jeol

... автоматически получает наблюдение и анализ, просто выбирая поле зрения. JSM-IT210 — это СЭМ нового поколения, который компактен и может работать без присмотра. Особенности Руководство от обмена образцами до автоматического ...
Jeol

... решения для подготовки образцов для ПЭМ. Обеспечивается высокая производительность рабочего процесса от пробоподготовки до наблюдения с помощью ПЭМ. Особенности TEM-СВЯЗЬ Использование картриджа JEOL с двойным ...
Jeol

... полезную для измерений EBSD) и реконструкцию поверхности Live 3D для наблюдения за топографией поверхности. С серией JSM-IT810 эксплуатация FE SEM еще никогда не была такой простой.СЭМ-наблюдение ...
Jeol

Увеличение : 50 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,14, 0,2 nm
... расстоянии. Наблюдение за образцом с простым управлением От загрузки образца до завершения наблюдения требуется всего 4 шага. После установки держателя образца нажатие кнопки «Пуск» автоматически выполняет ...
Jeol

... жидким азотом с боковым входом и автоматической системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (криоэлектронный микроскоп). -EM), что позволяет наблюдать за биомолекулами при криотемпературе. ...
Jeol

Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm
... помощью нового метода визуализации STEM (e-ABF: улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, ...
Jeol

Пространственное разрешение: 0,14 nm - 0,31 nm
JEM-2100Plus — это многоцелевой трансмиссионный электронный микроскоп, который сочетает в себе проверенную оптическую систему JEM-2100 с усовершенствованной системой управления для упрощения работы. Достигая превосходной ...
Jeol
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось