＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Scientific ChemiSEM интегрирует возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS) непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, что упрощает анализ и помогает получать надежные результаты с минимальной погрешностью ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет пробел между световой ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... прибора SU3800 и SU3900 имеют общее программное обеспечение, электронику и детекторную платформу. Особенности продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...
... Цифровой микроскоп для анализа отказов, обеспечения и контроля качества, исследований и разработок или криминалистики. Превосходная оптика, интуитивно понятное управление и интеллектуальное ...
... применений. Непосредственное крепление цифрового фотоаппарата обеспечивает высочайший уровень яркости. Задачи визуального контроля выполняются с помощью бинокулярной трубки из линии стереомикроскопа. Основные характеристики Большой ...
... Полностью апохроматическая система увеличения с апохроматическими объективами обеспечивает наилучший контраст, точность цвета и богатство деталей. Выдающаяся светопередача благодаря большому диапазону увеличения от 0,57x до 3,6x. Беспараллаксный ...
... промышленный контроль качества и анализ отказов. Универсальное решение для центральных центров микроскопии или промышленных лабораторий контроля качества ...
... Классические системы контроля предлагают малую глубину резкости, что означает, что некоторые части образца могут быть не в фокусе, что может привести к пропуску особенностей, утомлению пользователя и неполному осмотру. ZEISS ...
... Интегрированный широкопольный конфокальный микроскоп для анализа поверхности при обеспечении и контроле качества Универсальный широкопольный конфокальный микроскоп ...
... эффективному рабочему процессу, SENTERRA II является идеальным инструментом для решения реальных задач в лаборатории контроля качества Основные характеристики: - Спектроскопические характеристики исследовательского ...
Увеличение : 40 unit - 400 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g
... AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество изображения и цветопередачи в прочном, компактном и привлекательном корпусе. Благодаря ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 140 unit
... AM7915MZTL входит в линейку биноклей с большим рабочим расстоянием (LWD). Благодаря большому рабочему расстоянию и диапазону увеличений от 10 до 140x, он подходит для широкого спектра применений, где требуется дополнительное расстояние ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 120 kg
Длина: 130 mm
... портативной цифровой микроскопии, 8-мегапиксельный AM8917MZT представляет собой цифровой микроскоп высокого разрешения, способный выявить мельчайшие детали объекта. Микроскоп также обеспечивает ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения：0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Тип ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm - 1 nm
Вес: 400 kg
CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования ...
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным ...
... металлургических образцов с помощью оптических микроскопов машинного зрения Задача клиента: - Анализ зерен и структуры металлов - Прогнозируемое техническое обслуживание производственных процессов - Контроль ...
... - Обнаружение редких молекул - Определение экспрессии генов - Одноклеточный анализ - Обнаружение патогенов - Контроль и обеспечение качества Решение: - Модуль формирования изображения профиль M - Монохромная ...
... получение как морфологических, так и элементарных данных из образца, делая MIRA SEM эффективным аналитическим решением для рутинного контроля материалов в лабораториях контроля качества, ...
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... FusionScope - это корреляционный АСМ/СЭМ-микроскоп, который был разработан с нуля, чтобы позволить вам легко воспользоваться преимуществами сочетания этих двух методов анализа. Для большинства анализов часто бывает желательно ...
... 1. Применение Металлографический микроскоп HL401W - это тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп, который может обеспечить превосходное качество изображения и стабильную ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
Увеличение : 1 unit - 330 unit
Вес: 7,2 kg
Ширина: 325 mm
... установив новые стандарты качества изображения и эксплуатационных характеристик. TREND является популярным выбором по нескольким причинам: - Она имеет широкий диапазон увеличения: 1.3x - 330x - Вы можете настроить микроскоп ...
TAGARNO
Увеличение : 3 unit - 663 unit
... изображениями, обеспечивающий превосходное качество изображения Full HD в реальном времени со скоростью 60 кадров в секунду, что позволяет использовать ее в качестве решения широкого спектра задач контроля ...
Увеличение : 8 unit - 63 unit
... с помощью микроскопа TM 1 благодаря его большой оптической вариабельности, малой и компактной конструкции (конструкции) и большим рабочим расстояниям. ИНДУСТРИЯ - Ассамблея - Контроль качества - ...
Пространственное разрешение: 1 µm
Вес: 22, 30 kg
... интеллектуальный цифровой микроскоп, идеально подходящий для контроля и обеспечения качества практически в любой области промышленности. Быстрый и простой в настройке, полностью автоматизированный ...
... Использование Измерительные металлургические микроскопы серии INSPECT широко используются в полупроводниковых корпусах, паяльных пастах, на высоте петли, FPD панелях (LCM), на уровне пластин CSPS и так далее. Особенности: Высокоточное ...
Пространственное разрешение: 100 nm - 6 000 000 nm
... автоматических микроскопов BRINtronic входит серия микроскопов Brinell: - Полностью автоматический портативный микроскоп BRINtronic-LT² включает в себя ноутбук, поставляемый в прочном ...
Foundrax Engineering Products Ltd
... Камерный микроскоп PCE-VMM 50 - это микроскоп с большой опорной поверхностью для образцов 380 x 225 мм / 15 x 8,9 дюйма. Это позволяет свободно размещать на камерном микроскопе даже большие ...
Увеличение : max 50.0 unit
... Микроскоп Elcometer 900 Illuminated (x50) - это простой микроскоп с градуированным увеличением x50 и внутренней подсветкой. Микроскоп Elcometer 900 с подсветкой (x50) Elcometer 900 позволяет ...
Увеличение : max 30.0 unit
... Карманный микроскоп Elcometer 7210 - это чрезвычайно практичный микроскоп, используемый для инспекции объектов. Карманный (x30) микроскоп Elcometer 7210 Карманный микроскоп ...
Увеличение : 20 unit
Пространственное разрешение: 0,01 mm
... Ручной микроскоп для мобильного измерения твердости вмятин - Простота использования - Может использоваться в любом положении - Измерение вдавливаний по Виккерсу или Бринеллю - Идеальные аксессуары для портативных твердомеров ...
Вес: 30 kg
Длина: 1 000 mm
Ширина: 600 mm
... частиц, задержанных на поверхности фильтра. В анализе используются передовые методы анализа изображений и автоматизации микроскопа для получения быстрых и точных результатов загрязнения целых или указанных пользователем ...
... Металлографический микроскоп 4XC Металлографический микроскоп Данный металлографический микроскоп в основном используется для идентификации металла и анализа внутренней структуры организаций. ...
Вес: 0,6 kg
... Для критического исследования качества полировки мы настоятельно рекомендуем микроскоп серии FSM. ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось