Микроскоп для контроля поверхности Elcometer 7210
для измеренийдля контролядля контроля качества

микроскоп для контроля поверхности
микроскоп для контроля поверхности
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Применение
для контроля поверхности, для измерений, для контроля, для контроля качества
Конфигурация
переносной
Увеличение

МАКС.: 30 unit

Описание

Микроскоп кармана Elcometer 7210 весьма практически микроскоп используемый для осмотров места. Имеющ увеличение x30 и встроенный источник света, микроскоп кармана Elcometer 7210 идеальный выбор для конца вверх по исследованию дефектов и поверхностной чистоты.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Elcometer
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.