Микроскопы для измерений Leica
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

... , проходящих через фокальную плоскость, объединяются для создания одного изображения в фокусе. В классических системах микроскопии этот процесс может занимать много времени и быть сложным. ZEISS Visioner 1 позволяет ...

... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...

Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Scientific ChemiSEM интегрирует возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS) непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, что упрощает анализ и помогает получать надежные результаты с минимальной погрешностью ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 10 nm
... наблюдать большие образцы размером до 100 мм x 100 мм. Анализ аддитивного производства Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom ParticleX - это многоцелевой настольный СЭМ, предназначенный ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE


электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Увеличение : 2 000 unit
Пространственное разрешение: 0,5, 0,1, 1 µm


микроскоп конфокальный с лазерным сканеромLEXT™ OLS5100
Увеличение : 54 unit - 17 280 unit
Вес: 31, 32, 50, 43 kg
... Точное измерение формы и шероховатости поверхности на субмикронном уровне упрощает рабочий процесс и гарантирует достоверность данных. Гарантированная точность измерений Объективы микроскопа ...
Evident - Olympus Scientific Solutions

Пространственное разрешение: 0,1 nm
Вес: 159, 284 kg
Длина: 1 024, 762 mm
... Микроскоп, который соответствует Индивидуальные потребности Независимо от того, являются ли образцы маленькими или большими, простыми или сложными, проводит ли измерения новичок или эксперт, в линейке ...
Evident - Olympus Scientific Solutions

... простота использования Микроскоп BX53M упрощает процесс выполнения сложных задач микроскопии благодаря оптимизированным и удобным элементам управления. Пользователям доступен весь диапазон функциональных ...
Evident - Olympus Scientific Solutions


электронный сканирующий микроскопSU3800/3900 Family
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
... логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

... Цифровой микроскоп для анализа отказов, обеспечения и контроля качества, исследований и разработок или криминалистики. Превосходная оптика, интуитивно понятное управление и интеллектуальное программное обеспечение позволяют ...

... Наноскопия произвела революцию в изучении субклеточной архитектуры и динамики и находится на пути к тому, чтобы стать новым золотым стандартом во флуоресцентной визуализации (Нобелевская премия по химии 2014 года). Полностью интегрированные ...

Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH

Увеличение : 40 unit - 2 000 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH

Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g
... резкости на неровных или шероховатых поверхностях. Благодаря встроенной функции автоматического считывания увеличения (AMR) измерения можно проводить легко и быстро. Благодаря встроенному поляризационному фильтру эта ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

Увеличение : 10 unit - 140 unit
... Основные характеристики AM7915MZTL: - 5-мегапиксельный датчик Edge - Увеличенная глубина резкости (EDOF)* - Расширенный динамический диапазон (EDR)* - Увеличение 10-140x и большое рабочее расстояние - Автоматическое считывание ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

Увеличение : 400 unit - 470 unit
Вес: 110 g
Высота: 11,9 cm
... увеличении увеличения объекты с неровной поверхностью часто оказываются вне фокуса из-за ограниченной глубины резкости. 5,0 МП микроскоп Edge 3.0 AM73915MZT4 400x - 470x предлагает функцию click-to-focus для автоматической ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром ...

... новому измерению. ЭКСКЛЮЗИВНЫЕ ПРЕИМУЩЕСТВА С помощью портативного микроскопа Бринелля AFFRI можно проводить быстрые и точные измерения вдавливанием, используя те же методы и технологии, ...

... Микроскоп для визуального анализа изображений поперечного сечения обжимных соединений. - Точные результаты в режиме реального времени - Простое подключение и установка с помощью стандартного ПК - Четкое освещение с ...

Увеличение : 40, 20 unit
... эксплуатации и широким применением. Освещение ● Измерение расстояния до отверстия, ширины канавки, ширины вдавливания щели, длины, качества поверхности металла, плотности волокна, ткани, образца и т.д. ● Подходит для ...
Mikrosize

Пространственное разрешение: 400 nm
Квантовый алмазный микроскоп CIQTEK (QDM) представляет собой широкопольный магнитный резонанс, основанный на принципе спинового магнитного резонанса в азотно-вакансионном центре алмаза (NV-центре). Спиновое квантовое ...

Пространственное разрешение: 0,01 nm
... нанометровым разрешением. В отличие от других оптических микроскопов В UP-5000 реализована комбинация многих оптических методов 6-в-1 на одной платформе. В результате наш оптический микроскоп обеспечивает ...
RTEC Instruments

Увеличение : 5, 10, 20, 50 unit
MEIJI TECHNO

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным ...
OPTO

Увеличение : 20 unit
Пространственное разрешение: 500 nm
Длина: 140 mm
... Проекция сетки внутри OptoViewer 2.0 Бесплатно со всеми модулями визуализации Проекция сетки для подсчета клеток Описание OptoViewer "Сетка" - Бесплатный OptoViewer 2.0 позволяет проецировать цифровую сетку на живое изображение - Цвет ...
OPTO

... Новый сверхкомпактный цифровой микроскоп Opto является идеальным инструментом для измерений на производстве. Микроскоп машинного зрения профессионально оцифровывает качество там, где ...
OPTO

Увеличение : 20 unit - 800 unit
Walter Uhl

... UHR SEM для характеризации наноматериалов на субнанометрическом уровне - высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов следующего поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и ...

... изображений или как "маленький" мультисенсорный прибор для измерения - Заглушенные детали - Пластиковые детали - Резиновые детали - Инструменты - Уплотнения - Профили и т.д. Мастерские микроскопы серии ...
Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH

... широкоугольная микроскопическая система на основе монохроматора для измерения интенсивности флуоресценции или флуоресцентности меченых белков в наномолярных концентрациях. Соотношениефлюоресцентная микроскопия ...

... только повернуть турель на оптическом микроскопе или профилометре и запустить сканирование. Усовершенствуйте оптическую микроскопию с помощью АСМ для углубленного изучения Поскольку разрешение оптической ...
Nanosurf

Пространственное разрешение: 0,15, 0,02 nm
Вес: 2 720 kg
Длина: 1 450 mm
... Сканирующая головка Park NX-Tip - автоматизированная система атомно-силовой микроскопии (АСМ) для измерения сверхбольших и тяжелых плоскопанельных дисплеев в наномасштабе В ответ на растущий спрос на ...
Park Systems

... Использование Измерительные металлургические микроскопы серии INSPECT широко используются в полупроводниковых корпусах, паяльных пастах, на высоте петли, FPD панелях (LCM), на уровне пластин CSPS и так далее. Особенности: Высокоточное ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd


микроскоп по БринеллюBRINtronic series
Пространственное разрешение: 100 nm - 6 000 000 nm
... UKAS по стандартам ISO6506 и ASTM E10. В серию автономных автоматических микроскопов BRINtronic входит серия микроскопов Brinell: - Полностью автоматический портативный микроскоп ...
Foundrax Engineering Products Ltd

... 1. Особенности 1.1. Ахроматический объектив и окуляр с широким полем зрения и высокой точкой обзора, делают поле зрения широким, плоским и четким. 1.2. Прецизионное вращение зума обеспечивает непрерывное увеличение. 1.3. Объективы с большим ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation

... Микроскопы для производителей инструментов Multitek - это многофункциональные измерительные приборы, которые в основном используются для контроля и измерения миниатюрных механических и электронных деталей ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось