＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g
... задач сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) - даже для самых сложных образцов. Helios 5 DualBeam переопределяет стандарты в области получения изображений высокого ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 515, 1 030 nm
... сфокусированным ионным пучком с фемтосекундной лазерной абляцией и визуализацией SEM (сканирующая электронная микроскопия). Эта комбинация "TriBeam" позволяет получать изображения высокого ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 2, 5, 1, 4, 20 µm
... независимо от того, проводите ли вы подготовку образцов для сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM), 3D-характеристики материалов или клеточной ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,06, 0,11, 0,16 nm
... поля (X-CFEG). X-CFEG имеет чрезвычайно высокую яркость (>>1,0 x 108 A/м2/Sr/V*), низкий разброс энергии и может работать в диапазоне 30 - 200 кВ. Это обеспечивает получение STEM-изображений высокого ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,05, 0,07, 0,06, 0,1, 0,14 nm
... Микроскоп высокого разрешения TEM и STEM для всех задач материаловедения и полупроводников. Для того чтобы ученые могли лучше понять сложные образцы и разработать инновационные материалы, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,14, 0,16 nm
... и STEM анализ для химической характеристики с высоким разрешением и динамических наблюдений. Thermo Scientific Talos F200i (S)TEM - это полевой эмиссионный (сканирующий) просвечивающий электронный микроскоп ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,1, 0,14, 0,16 nm
... Микроскоп для ТЭМ с высоким разрешением и STEM с точной количественной оценкой химических веществ. Thermo Scientific Talos F200X STEM - это сканирующий просвечивающий электронный микроскоп, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,16 nm
... EDS-анализ и ТЭМ высокого разрешения (HRTEM) для динамической микроскопии. Thermo Scientific Talos F200S 200kV (S)TEM сочетает в себе быструю, многоканальную визуализацию высокого ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,2, 0,37 nm
... Универсальный микроскоп TEM и STEM для 2D и 3D визуализации чувствительных к лучу образцов и материалов с использованием высокого контраста. Трансмиссионный электронный микроскоп Talos ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1 µm - 5 µm
Вес: 70,3 kg
Длина: 717 mm
... Визуальное пространственное разрешение на уровне 1 мкм с помощью камеры 5MPix или окуляров и инфракрасное пространственное разрешение на уровне более 5 мкм для получения высококачественных изображений ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось