＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5, 0,9 nm
... обеспечивает точное позиционирование на больших образцах. Получение изображений с высоким разрешением и автоматическим выравниванием - Полевая эмиссионная оптика Шоттки обеспечивает высокую ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... платформу. Особенности продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... визуализации и вариативностью детектора. Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... недавно разработанным функциям автофокусировки и автостигматизации, она поможет вам легко получить четкие изображения высокого разрешения, а также результаты элементного анализа (EDS) и дифракции (EBSD). ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... шестого поколения заполняет пробел между световой микроскопией и напольным РЭМ-анализом, расширяя тем самым возможности исследовательских центров. Он обеспечивает быструю визуализацию с высоким разрешением ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 175 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 15 nm
... решение для получения изображений высокого разрешения, обеспечивающее лучшие результаты в своем классе. Phenom Pure Desktop SEM обеспечивает высококачественные изображения благодаря ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1 µm - 5 µm
Вес: 70,3 kg
Длина: 717 mm
... Визуальное пространственное разрешение на уровне 1 мкм с помощью камеры 5MPix или окуляров и инфракрасное пространственное разрешение на уровне более 5 мкм для получения высококачественных изображений ...
... разрушения (LIBS) позволяет получить точный химический отпечаток структуры материала, который вы видите на изображении под микроскопом - в течение одной секунды. - 2 системы в 1 для визуального и химического анализа - ...
Leica Microsystems GmbH
... Этот материальный микроскоп сочетает в себе высококачественную оптику Leica и современную универсальную светодиодную подсветку с белым светом. Это идеальный инспекционный инструмент для выполнения всех видов рутинных ...
Leica Microsystems GmbH
... основано на новейшей светодиодной технологии и полностью интегрировано в микроскоп. Низкое тепловое излучение и интеграция в подставку обеспечивают оптимальный поток воздуха вокруг микроскопа. Долгий ...
Leica Microsystems GmbH
... области SEM Увеличьте пропускную способность FIB Оцените лучшее 3D-разрешение при проведении FIB-SEM-анализа Максимизируйте свои знания в области РЭМ Извлеките достоверную информацию об ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... компромиссы при получении изображений высокого разрешения - перейдите на низкие напряжения и получите преимущества улучшенного разрешения и контрастности при напряжении 1 кВ и ниже. Выполняйте ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... интеллектуальной микроскопией для получения быстрых и надежных результатов. Для автоматизации рабочего процесса выберите моторизованный Axiovert 7. Откройте для себя интеллектуальную микроскопию Axiovert ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... инфракрасной микроскопии. Эксклюзивная технология детектора Focal Plane Array (FPA) от Bruker позволяет получать детальное изображение с максимальной скоростью. Это позволяет в полной мере использовать широкие ...
Увеличение : 40 unit - 400 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 2 000 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 10 unit - 140 unit
Вес: 135 g
Длина: 10,5 cm
... AF7115MZTL - 5-мегапиксельный цифровой микроскоп с большим рабочим расстоянием, обеспечивающий получение изображений высокого разрешения в диапазоне увеличений 10x ~ 140x. Данная модель ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 50 unit
Вес: 97 g
... макрозумом - Регулируемый поляризатор - Прочный металлический корпус - Гибкое управление светодиодами (FLC) - Высокое оптическое разрешение - Адаптируемый интерфейс - И многое другое... ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 137 g
Длина: 10,5 cm
... Получите необходимые детали на ходу с помощью цифрового микроскопа высокого разрешения Dino-Lite AF7915MZT. Этот 5-мегапиксельный ручной цифровой микроскоп включает в ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 200 unit
Meiji Techno RZ 系列是先进的高性能模块化立体显微镜，专为当今要求苛刻的应用而设计。该系列围绕通用主物镜和平行光路设计，可提供清晰、无失真的高分辨率图像，放大倍数范围从 3.75 倍到 300 倍。这款 RZ 配置系统具有符合人体工程学的双目头，可倾斜并垂直调节，角度范围从 10° 到 50°，可容纳 30 毫米目镜 (MA749) 和 UWF10X 目镜、高眼点、可调焦、FN 24（每个），可容纳 25 毫米 OD 标线 (MA730)（需要 2 ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg
... контрастность, автофокус, автостигматор CIQTEK SEM5000Pro - это растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки (FE-SEM), специализирующийся на высоком разрешении даже при ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы ...
CIQTEK Co., Ltd.
Пространственное разрешение: 3, 0,9, 1,6 nm
... электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией объектива, с низким ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 24 unit - 154 unit
... поле зрения составляет 10 мм*5,6 мм, что помогает проводить микроскопические наблюдения. ● Sony 1/2.8" 4K Starvis CMOS с высоким соотношением сигнал/шум. ● 4K HDMI/USB/ETH/WiFi мультиинтерфейсный выход. ● Адаптивное ...
Mikrosize
Пространственное разрешение: 0,01 nm
... нанометровым разрешением. В отличие от других оптических микроскопов В UP-5000 реализована комбинация многих оптических методов 6-в-1 на одной платформе. В результате наш оптический микроскоп ...
RTEC Instruments
... Микроскопы серии Oxion для материаловедения специально разработаны для наблюдения за многими типами материалов в исследовательских лабораториях университетов или профессионалов в промышленных исследовательских центрах Благодаря ...
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным ...
... Инвертированные микроскопы компактны, прочны и используются для нужд высокого увеличения. Они идеально подходят для анализа монтажных образцов с плоской поверхностью и оснащены возможностью использования ...
... наночастицы с восходящим преобразованием и квантовые точки. - Выполнение in vitro или in vivo гиперспектральной микроскопии высокого разрешения. - Разрабатывать новые сенсоры на основе ...
«Быстрая и простая в эксплуатации, позволяющая получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется ...
Jeol
... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN VEGA с источником электронов на основе вольфрамовой нити сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ компании TESCAN VEGA визуализацию СЭМ ...
Tescan GmbH
... высочайшей точности измерений WM1 200 S - Программное обеспечение для измерений и анализа SAPHIR - Матричная ПЗС-камера высокого разрешения - 1,5-кратное увеличение - Освещение падающим светом с диодной ...
Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH
... использовании комбинационная система, отличающаяся сверхбыстрой конфокальной обработкой изображений, высоким пространственным разрешением и спектральным разрешением. Он предлагает полностью ...
HORIBA Scientific
Пространственное разрешение: 0,5 µm
... внутренних особенностей объекта. Рентгеновская микроскопия обеспечивает такую визуализацию с разрешением лучше, чем микрометр (мкм). Высококококонтрастный рентгеновский микроскоп высокого ...
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... полнофункционального атомно-силового микроскопа с РЭМ. Он способен выполнять большинство обычных режимов измерений, ожидаемых от стандартного АСМ, включая контактный, динамический и FIRE режимы. Переключение между АСМ ...
... трансимитирующего света с использованием стекловолокна и источника холодного света - цифровая видеокамера высокого разрешения Вся колонна микроскопа вместе с просвечивающим устройством ...
... 1. Особенности 1.1. Ахроматический объектив и окуляр с широким полем зрения и высокой точкой обзора, делают поле зрения широким, плоским и четким. 1.2. Прецизионное вращение зума обеспечивает непрерывное увеличение. 1.3. ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось