＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... sr может быть установлен рядом с образцом для элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением сигнала ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm
... визуализации - без необходимости создания замедляющего поля на образце - от 100 В (опция 10 В) до 30 кВ ускоряющего напряжения. EDX- анализ и визуализация с высоким разрешением со всеми детекторами возможны при рабочем расстоянии 6 мм - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... для оптимального анализа легких элементов. Они могут использоваться с SU8600 во всем диапазоне энергий пучка до 30 кэВ и на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете объединить SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
... SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] / сжатие, нагрев ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены благодаря ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
... логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 1 unit - 330 unit
Пространственное разрешение: 10 nm
... автоматическую установку позиции измерения и автоматический
анализ с помощью стандартной программы
анализа загрязнений, что позволяет как новичкам, так и специалистам выполнять надежные
анализы.
Помимо ...
Shimadzu France
... Обзор
iMScope QT — имиджинговый масс‑спектрометр‑
микроскоп, сочетающий оптическую
микроскопию с MALDI‑масс‑спектрометрией. Создан для высокоразрешающего и высокоскоростного масс‑спектрометрического имиджинга. ...
Shimadzu France
... Новый инвертированный металлургический микроскоп MEC4 компании UNITRON предназначен для исследования и анализа металлургических образцов и предварительно подготовленных материалов для автомобильной, аэрокосмической, медицинской ...
Unitron
... инвертированный металлургический микроскоп, разработанный для поддержки различных методов наблюдения, включая яркопольное, яркопольное/темнопольное, поляризованный свет и ДИК. Этот универсальный и настраиваемый микроскоп ...
Unitron
... EXAMET-5 - это новый промышленный металлургический микроскоп, предназначенный для яркопольных исследований в области материаловедения, производства металлов, металлургии, тканей/текстиля, пластин, оптоэлектроники, композитов и микроэлектроники. Передовая ...
Unitron
Увеличение : 0 unit - 4 unit
... UNITRON возвращается в область криминалистики, представляя новый микроскоп серии CFM. При содействии полицейских организаций, криминалистов и преподавателей в области криминалистики микроскоп UNITRON серии CFM предлагает ...
Unitron
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки