Микроскопы для анализов Thermo Fisher

Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... результаты элементного анализа (EDS) и дифракции (EBSD). Технология Thermo Scientific ChemiSEM интегрирует возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS) непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, ...

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm

... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет ...

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm

... элементного и РЭМ-анализа. Настольный РЭМ Phenom с энергодисперсионной рентгеновской дифракцией Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom ProX G6 шестого поколения заполняет пробел между световой микроскопией ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 000 nm

... Настольный SEM обеспечивает высокое качество производства стали за счет анализа отказов и совершенствования процессов. Металлургам и исследователям в области производства стали необходимы данные сканирующей ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Анализ чистоты компонентов с помощью многоцелевой настольной РЭМ. Настольный РЭМ для анализа чистоты компонентов Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM - это многоцелевой ...

... Анализ остатков огнестрельного оружия с помощью настольной РЭМ EDX. Анализ остатков выстрела с помощью SEM EDX Анализ остатков выстрела (GSR) играет важную роль в определении ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 10 nm

... Настольная РЭМ для анализа аддитивного производства, способная наблюдать большие образцы размером до 100 мм x 100 мм. Анализ аддитивного производства Настольный сканирующий электронный микроскоп ...

Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg

... Гибкий, простой в использовании прибор SEM EDS, обеспечивающий мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-изображение и элементный анализ EDS Несмотря на то, что сканирующая электронная ...

Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... Сканирующий электронный микроскоп для универсальной, высокопроизводительной визуализации и анализа материалов. Лаборатории по определению характеристик современных материалов требуют доступа к новейшим ...