＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Вес: 25 kg
... отраслях промышленности, микроскоп GX53 обеспечивает получение четких детализированных изображений, что может быть сложно при использовании традиционных методов микроскопии. В сочетании с ПО для анализа ...
Пространственное разрешение: 0,2 µm
Вес: 9 kg
Длина: 587 mm
... освещения для выполнения любых анализов. Доступны галогенные, ртутные или ксеноновые осветители. Olympus с энтузиазмом относится к разработке оборудования для фотосъемки и цифровой визуализации. Наши камеры для микроскопии ...
... жидким азотом с боковым входом и автоматической системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (криоэлектронный микроскоп). -EM), что позволяет наблюдать за биомолекулами при криотемпературе. Автоматизированная ...
Jeol
... Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением с высокочувствительным анализом ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm
... улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, были приняты новые ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm
... электронной микроскопии. Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы. • Четырехлинзовая конденсорная система Современная электронная микроскопия ...
Jeol
Увеличение : 50 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm
... предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов Особенности • Внутриколонный энергетический фильтр (Омега-фильтр) Энергетический ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,14, 0,2 nm
... удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп). Особенности • ...
Jeol
... Четкая видимость способствует новым открытиям В настоящее время важными считаются не только разрешение и аналитические характеристики порядка нанометров, но и скорость сбора данных. Новорожденный JSM-IT710HR — это модель четвертого поколения серии ...
Jeol
... между собой для получения общего представления о местах проведения анализа. Встроенная ЭДС для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения* « Анализ в реальном времени» Live Analysis ...
Jeol
... визуализации к SEM, «Живой анализ»*2 для отображения результатов элементного анализа в режиме реального времени, SMILE VIEW（TM） Lab для непрерывного создания отчетов о результатах наблюдения и/или анализа ...
Jeol
... измерительным возможностям. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простой в использовании SEM с плавной навигацией и анализом в реальном времени». ...
Jeol
Увеличение : 10 unit
Вес: 16 978 g
Длина: 550 mm
... Этот прибор представляет собой профессиональный, универсальный, металлургический микроскоп, который используется для тестирования металлов и анализа поверхностей KERN OKO 178 - это комбинированный вариант со светодиодным ...
... геммологические микроскопы на основе нашей универсальной серии EM стереомикроскопов. Те, кто должен работать в соответствии с самыми строгими стандартами драгоценных минералов, оценят нашу полнофункциональную серию GEM. Если вы хотите, ...
MEIJI TECHNO
Увеличение : 10, 20 unit
MEIJI TECHNO
Увеличение : 4, 10, 20, 40 unit
MEIJI TECHNO
Увеличение : 5, 10, 20, 50 unit
MEIJI TECHNO
Увеличение : 4, 10, 40 unit
MEIJI TECHNO
Увеличение : 10, 20 unit
MEIJI TECHNO AMERICA
Увеличение : 4, 10, 40 unit
MEIJI TECHNO AMERICA
MEIJI TECHNO AMERICA
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки