Микроскопы для анализов Hitachi

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... sr может быть установлен рядом с образцом для элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... визуализации - без необходимости создания замедляющего поля на образце - от 100 В (опция 10 В) до 30 кВ ускоряющего напряжения. EDX-анализ и визуализация с высоким разрешением со всеми детекторами возможны при рабочем ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... для оптимального анализа легких элементов. Они могут использоваться с SU8600 во всем диапазоне энергий пучка до 30 кэВ и на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены ...

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm

... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit

... логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, ...