Микроскопы для анализов Jeol

1 Компания | 12 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-ARM300F2

Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением с высокочувствительным ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-IT710HR

Четкая видимость способствует новым открытиям В настоящее время важными считаются не только разрешение и аналитические характеристики порядка нанометров, но и скорость сбора данных. Новорожденный JSM-IT710HR — это модель четвертого ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-IT210

... между собой для получения общего представления о местах проведения анализа. Встроенная ЭДС для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения* «Анализ в реальном времени» Live ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-Z300FSC

... жидким азотом с боковым входом и автоматической системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (криоэлектронный микроскоп). -EM), что позволяет наблюдать за биомолекулами при криотемпературе. ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
JEM-ARM200F

Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm

... улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
JEM-F200

Пространственное разрешение: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm

... электронной микроскопии. Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы. • Четырехлинзовая конденсорная система Современная ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-2200FS

Увеличение : 50 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm

... предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов Особенности • Внутриколонный энергетический ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-1400Flash

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,14, 0,2 nm

... удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп). Особенности • ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-IT200

... визуализации к SEM, «Живой анализ»*2 для отображения результатов элементного анализа в режиме реального времени, SMILE VIEW(TM) Lab для непрерывного создания отчетов о результатах наблюдения и/или анализа ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JCM-7000

... измерительным возможностям. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простой в использовании SEM с плавной навигацией и анализом ...

Показать другие изделия
Jeol
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки