Микроскопы для анализов Jeol
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением с высокочувствительным ...
Jeol

Четкая видимость способствует новым открытиям В настоящее время важными считаются не только разрешение и аналитические характеристики порядка нанометров, но и скорость сбора данных. Новорожденный JSM-IT710HR — это модель четвертого ...
Jeol

... между собой для получения общего представления о местах проведения анализа. Встроенная ЭДС для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения* «Анализ в реальном времени» Live ...
Jeol

... жидким азотом с боковым входом и автоматической системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (криоэлектронный микроскоп). -EM), что позволяет наблюдать за биомолекулами при криотемпературе. ...
Jeol

Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm
... улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, ...
Jeol

Пространственное разрешение: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm
... электронной микроскопии. Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы. • Четырехлинзовая конденсорная система Современная ...
Jeol

Увеличение : 50 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm
... предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов Особенности • Внутриколонный энергетический ...
Jeol

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,14, 0,2 nm
... удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп). Особенности • ...
Jeol

... визуализации к SEM, «Живой анализ»*2 для отображения результатов элементного анализа в режиме реального времени, SMILE VIEW(TM) Lab для непрерывного создания отчетов о результатах наблюдения и/или анализа ...
Jeol

... измерительным возможностям. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простой в использовании SEM с плавной навигацией и анализом ...
Jeol
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось