＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm
... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... пучка до 30 кэВ и на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете объединить SEM с детектором Bruker FlatQuad EDX с телесным углом более 1sr для максимальной эффективности ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Пространственное разрешение: 0,7, 1,2 nm
... субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 000 nm
... Настольный SEM обеспечивает высокое качество производства стали за счет анализа отказов и совершенствования процессов. Металлургам и исследователям в области производства стали необходимы данные сканирующей электронной ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 10, 3 nm
... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром ...
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение ...
CIQTEK Co., Ltd.
... высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется на наблюдении за чувствительными к электронному лучу образцами, такими ...
Jeol
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная ...
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось