Электронные микроскопы Jeol

... боковой ступенью охлаждения жидким азотом и автоматизированной системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (крио-ЭМ), позволяющий наблюдать биомолекулы при криотемпературе. Автоматизированная ...

Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm

... enhanced ABF), облегчающей наблюдение материалов со световыми элементами даже при низких ускоряющих напряжениях. Помещение микроскопа отделено от операционной комнаты, что позволяет выполнять удаленные операции. Кроме ...

Пространственное разрешение: 0,19, 0,23 nm

... аналитической электронной микроскопии. Он также отличается исключительной механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт компании JEOL, накопленный за многие годы. Четырехлинзовая ...

Увеличение : 2 000 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm

... современный аналитический электронный микроскоп, оснащен 200 кВ полевой эмиссионной пушкой (FEG) и внутриколоночным энергетическим фильтром (Omega filter), который позволяет получать изображение с нулевыми ...

Пространственное разрешение: 0,14 nm - 0,31 nm

... JEM-2100Plus - это многоцелевой просвечивающий электронный микроскоп, который сочетает в себе проверенную оптическую систему JEM-2100 с усовершенствованной системой управления для повышения удобства эксплуатации. ...

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm

... удовлетворения этих потребностей новый электронный микроскоп с напряжением 120 кВ "JEM-1400Flash" оснащен высокочувствительной камерой sCMOS, системой монтажа сверхширокой области и функцией привязки ...

Увеличение : 3 500 unit - 100 000 unit

... замедляет освещенный электронный пучок и ускоренный электронный сигнал, используя напряжение смещения для образца. Новый детектор обратно рассеянных электронов Недавно разработанный ...

Увеличение : 10 unit - 2 740 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,3 nm

... JSM-F100 Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-F100 включает в себя не только нашу высоко оцененную полевую эмиссионную электронную пушку In-lens Schottky Plus ...

Увеличение : 25 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,3, 3 nm

... JSM-7610F - это сканирующий электронный микроскоп Шоттки с ультравысоким разрешением и полулинзовым объективом. Оптика высокой мощности может обеспечить высокую пропускную способность и высокую производительность ...

... степени аналитических и измерительных возможностей. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции "Простой в использовании SEM с удобной ...