＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... боковой ступенью охлаждения жидким азотом и автоматизированной системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (крио-ЭМ), позволяющий наблюдать биомолекулы при криотемпературе. Автоматизированная ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,08 nm - 0,23 nm
... enhanced ABF), облегчающей наблюдение материалов со световыми элементами даже при низких ускоряющих напряжениях. Помещение микроскопа отделено от операционной комнаты, что позволяет выполнять удаленные операции. Кроме ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,19, 0,23 nm
... электронной микроскопии. Он также отличается исключительной механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт компании JEOL, накопленный за многие годы. Четырехлинзовая конденсорная система Современная ...
Jeol
Увеличение : 2 000 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm
... информацию о химическом состоянии или элементарном составе образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов. - Внутриколоночный энергетический фильтр (фильтр ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm
... этих потребностей новый электронный микроскоп с напряжением 120 кВ "JEM-1400Flash" оснащен высокочувствительной камерой sCMOS, системой монтажа сверхширокой области и функцией привязки изображений к оптическому микроскопу ...
Jeol
Увеличение : 3 500 unit - 100 000 unit
... JSM-7900F - новый флагманский FE-SEM компании JEOL, сочетающий в себе чрезвычайно высокое разрешение изображения, повышенную стабильность и исключительную простоту использования для оператора любого уровня в многоцелевой среде. Neo Engine（Новый ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 2 740 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,3 nm
... интеграции EDS Недавно разработанный графический интерфейс пользователя "SEM Center" полностью объединяет визуализацию SEM и анализ EDS. Эта мощная функция обеспечивает работоспособность нового поколения ...
Jeol
Увеличение : 25 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,3, 3 nm
... сканирующий электронный микроскоп Шоттки с ультравысоким разрешением и полулинзовым объективом. Оптика высокой мощности может обеспечить высокую пропускную способность и высокую производительность анализа. ...
Jeol
... элементного анализа в режиме реального времени, SMILE VIEW（TMTM） Lab для бесшовной генерации отчетов о результатах наблюдения и/или анализа и т.д. обеспечивают быстрый анализ с интегрированным ...
Jeol
... и измерительных возможностей. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции "Простой в использовании SEM с удобной навигацией и анализом ...
Jeol
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось