＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Широкополосные системы плазменного контроля дефектов 3935 и 3920 EP обеспечивают обнаружение дефектов на уровне пластин, изучение выхода продукции и поточный контроль для логики ≤5 нм ...
KLA Corporation
... Обзор
Комплексные системы инспекции и ревью
дефектов на вафлях для обнаружения, классификации и мониторинга рисунковых и поверхностных
дефектов в НИОКР и серийном производстве. Платформы объединяют широкополосное ...
KLA Corporation
... Широкополосные плазменно-оптические инспекторы дефектов серии C30x позволяют систематически обнаруживать дефекты и выявлять скрытые дефекты надежности при производстве микросхем для автомобильной промышленности, ...
KLA Corporation
... портфеля передовых инструментов для проверки и анализа дефектов на пластинах, Puma 9980 обеспечивает высочайшую производительность для контроля темпов производства за счет улучшения захвата типов дефектов ...
KLA Corporation
... последнего поколения, включают: контроль дефектов передней стороны пластины; контроль дефектов края пластины, профилирование, метрологию и обзор; контроль и обзор дефектов ...
KLA Corporation
... Система контроля непаттернированных пластин Surfscan® SP7XP выявляет дефекты и проблемы с качеством поверхности, которые влияют на производительность и надежность передовых устройств логики и памяти. Она поддерживает ...
KLA Corporation
... классификация дефектов электронных балочных пластин Система обзора и классификации дефектов электронно-лучевых пластин eDR7380™ поддерживает производство пластин и микросхем для широкополосных полупроводников. Она обеспечивает ...
KLA Corporation
... литографам точно отслеживать производительность наложения устройства. Области применения Контроль наложения на изделие, мониторинг на линии, квалификация сканера, контроль шаблонов, критический размер (CD) в режиме Brightfield Система ...
KLA Corporation
... пленки. Контроль качества подложек, сравнение поставщиков подложек, входной контроль качества (IQC), выходной контроль качества (IQC), контроль процесса CMP (химико-механический процесс) ...
KLA Corporation
... фотолюминесцентный контроль дефектов на пластинах GaN, обнаруживая и классифицируя дислокации, ямы и отверстия GaN для контроля дефектов в реакторах GaN. Энергетические приложения включают ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки