Оптический прибор для контроля Candela® 7100 series
для поверхностидля жесткого диска HDDдля электронной промышленности

Оптический прибор для контроля - Candela® 7100 series - KLA Corporation - для поверхности / для жесткого диска HDD / для электронной промышленности
Оптический прибор для контроля - Candela® 7100 series - KLA Corporation - для поверхности / для жесткого диска HDD / для электронной промышленности
Оптический прибор для контроля - Candela® 7100 series - KLA Corporation - для поверхности / для жесткого диска HDD / для электронной промышленности - изображение - 2
Оптический прибор для контроля - Candela® 7100 series - KLA Corporation - для поверхности / для жесткого диска HDD / для электронной промышленности - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический
Применение
для поверхности, для жесткого диска HDD
Сектор
для электронной промышленности
Другие характеристики
дефектов, автоматический

Описание

Серия Candela 7100 обеспечивает передовое обнаружение и классификацию дефектов на подложках и носителях для жестких дисков. Созданная на базе проверенной на практике линейки продуктов Candela, серия 7100 систем обнаружения и классификации дефектов жестких дисков помогает производителям обнаруживать и классифицировать критические субмикронные дефекты, такие как микроотверстия, неровности, частицы и заглубленные дефекты, для максимального увеличения выхода продукции и снижения общей стоимости контроля. Передовая система обнаружения и классификации дефектов серии Candela 7100 разработана специально для подложек и носителей жестких дисков. Мощный лазер с двойной длиной волны оптимизирован для решения текущих задач по обнаружению дефектов, представляющих интерес (DOI), а многоканальные детекторы рассеяния обеспечивают повышенную чувствительность для классификации субмикронных ям, неровностей, частиц и скрытых дефектов на всем диапазоне подложек. Возможности и стабильность дефектоскопов серии 7100 позволяют использовать одну платформу для решения нескольких задач контроля технологического процесса, снижая зависимость от таких инструментов и методов, как атомно-силовые, сканирующие электронные и просвечивающие электронные микроскопы, для исследования дефектов и выявления их первопричины. Обнаруживает и классифицирует субмикронные ямки, неровности, частицы, скрытые дефекты на металле и стекле, подложках и носителях с помощью полных карт дефектов диска Обеспечивает более быстрое получение результатов благодаря картам полного диска, классифицированным дефектам и выходным данным, пригодным для практического применения Снижает зависимость от технологий автономного контроля (AFM, SEM, TEM и т.д.), что приводит к снижению общей стоимости владения Возможна как ручная (7110), так и полностью автоматизированная (7140) конфигурация

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги KLA Corporation
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.