Серия Candela 7100 обеспечивает передовое обнаружение и классификацию дефектов на подложках и носителях для жестких дисков. Созданная на базе проверенной на практике линейки продуктов Candela, серия 7100 систем обнаружения и классификации дефектов жестких дисков помогает производителям обнаруживать и классифицировать критические субмикронные дефекты, такие как микроотверстия, неровности, частицы и заглубленные дефекты, для максимального увеличения выхода продукции и снижения общей стоимости контроля.
Передовая система обнаружения и классификации дефектов серии Candela 7100 разработана специально для подложек и носителей жестких дисков. Мощный лазер с двойной длиной волны оптимизирован для решения текущих задач по обнаружению дефектов, представляющих интерес (DOI), а многоканальные детекторы рассеяния обеспечивают повышенную чувствительность для классификации субмикронных ям, неровностей, частиц и скрытых дефектов на всем диапазоне подложек. Возможности и стабильность дефектоскопов серии 7100 позволяют использовать одну платформу для решения нескольких задач контроля технологического процесса, снижая зависимость от таких инструментов и методов, как атомно-силовые, сканирующие электронные и просвечивающие электронные микроскопы, для исследования дефектов и выявления их первопричины.
Обнаруживает и классифицирует субмикронные ямки, неровности, частицы, скрытые дефекты на металле и стекле, подложках и носителях с помощью полных карт дефектов диска
Обеспечивает более быстрое получение результатов благодаря картам полного диска, классифицированным дефектам и выходным данным, пригодным для практического применения
Снижает зависимость от технологий автономного контроля (AFM, SEM, TEM и т.д.), что приводит к снижению общей стоимости владения
Возможна как ручная (7110), так и полностью автоматизированная (7140) конфигурация
---