＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... инфраструктуру Setup 2.0 для масштабируемого улучшения настройки рецептов контроля, а также связь DualSENS™ между оптическим инспектором 3935 и системами электронно-лучевого контроля для повышения чувствительности ...
KLA Corporation
... классификации и мониторинга рисунковых и поверхностных дефектов в НИОКР и серийном производстве. Платформы объединяют широкополосное оптическое освещение (включая SR‑DUV), лазерное сканирование и e‑beam‑ревью с современными датчиками ...
KLA Corporation
... процессов, конструктивных узлов и устройств в ходе НИОКР. На производстве высокая чувствительность систем C30x при скорости оптического контроля позволяет осуществлять мониторинг критически важных технологических слоев, ...
KLA Corporation
... передовых инструментов для проверки и анализа дефектов на пластинах, Puma 9980 обеспечивает высочайшую производительность для контроля темпов производства за счет улучшения захвата типов дефектов на усовершенствованных слоях паттернинга. ...
KLA Corporation
... CIRCL5 последнего поколения, включают: контроль дефектов передней стороны пластины; контроль дефектов края пластины, профилирование, метрологию и обзор; контроль и обзор дефектов задней стороны пластины; ...
KLA Corporation
... материалов и подложек путем квалификации и контроля инструментов, процессов и материалов, включая те, которые используются для EUV-литографии. Используя DUV-лазер и оптимизированные режимы контроля, Surfscan SP7XP обеспечивает ...
KLA Corporation
... Визуализация дефектов, автоматическая поточная классификация дефектов и управление производительностью, выходной и входной контроль качества голых пластин, утилизация пластин, обнаружение дефектов, обнаружение технологических окон, квалификация ...
KLA Corporation
... литографам точно отслеживать производительность наложения устройства. Области применения Контроль наложения на изделие, мониторинг на линии, квалификация сканера, контроль шаблонов, критический размер (CD) в режиме Brightfield Система ...
KLA Corporation
... оптимизированная для контроля составных полупроводниковых материалов, включая фоточувствительные пленки. Контроль качества подложек, сравнение поставщиков подложек, входной контроль качества (IQC), выходной ...
KLA Corporation
... царапин. Контроль качества подложек, сравнение поставщиков подложек, входной контроль качества (IQC), выходной контроль качества (IQC), контроль процесса CMP (химико-механический процесс) ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки