Микроскопы обратно-рассеянных электронов Hitachi

1 Компания | 7 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... фильтрацией, расширяемая за счет мобильного детектора обратного рассеяния. В режиме просвечивания сигнал TE может быть обнаружен одновременно с РЭМ-изображением выборочно в соответствии с углами рассеяния ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете объединить SEM с детектором Bruker FlatQuad EDX с телесным углом более 1sr для максимальной эффективности ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... сжатие, нагрев / охлаждение, зондирование, серийные срезы микротома и т. д.). Как и SU8700, SU7000 оснащен универсальной электронной оптикой Hitachi с высоким разрешением и отсутствием поля (состоящей из эмиттера Шоттки ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
FlexSEM II

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm

... Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий вакуум до 100 Па - Стандартный SE и 4+1 сегментный детектор обратного ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп SEM
микроскоп SEM
TM4000PlusIII

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit

... зонда для каждого - Оптическая цветная навигационная камера - 3 ступени давления в камере - 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов - Считывание тока зонда и функция IFT ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки