- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Система контроля для отражающей поверхности
Системы контроля для отражающих поверхностей
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
система контроля для отражающей поверхностиreflectCONTROL
... reflectCONTROL используется для контроля поверхности блестящих объектов. Модель RCS110-245 со встроенным контроллером доступна для стационарных измерений или встраивания в машины. Этот компактный датчик отображает полосатый рисунок, который зеркально ...
оптическая система контроляSVS 10μ
... Описание
Станция проверки AVI для лент IC-подложек, просканированных AVI-системами. SVS 10μ, CIMS AVI-проверочная станция на базе Sprint™, разработана для верификации геометрии линий/фингеров до 10 µm (оптимизировано для 10–18 µm).
Система ...
CIMS
... Описание
SVS 4μ — AVI станция верификации для подложек ИС, разработанная для проверки полос, отсканированных AVI-системами. На базе Sprint™, станция оптимизирована для технологий с шириной линий/пальцев от 4 µm до 8 µm. Система подсветки сочетает ...
CIMS
система контроля с помощью видеосистемы технического зренияSVS 5μ
... Описание
SVS 5μ — это станция верификации CIMS AVI, работающая на Sprint™, предназначенная для верификации полосок IC-подложек, отсканированных AVI-системами. Оптимизирована для проверки ширины линий/пальцев 5–8 µm и обеспечивает точную верификацию ...
CIMS
... Описание
SVS 8μ CIMS — это станция верификации AVI для IC-подложек, предназначенная для проверки полос, отсканированных AVI-системами, с минимальным разрешением линий/пальцев до 8 мкм. Под управлением Sprint™ станция оптимизирована для технологий ...
CIMS
... Фильтр со штифтовым соплом для датчика Opto solino RTI
100-SO-10-MAN-001 / AN_SO_PN_26-05
Задача заказчика: Фильтры с игольчатыми соплами — это прецизионные микроперфорированные детали для фильтрации, управления ...
... Инспектор дефектов поверхности - однокамерный Однокамерный дефектоскоп поверхности (SI1100) фиксирует, анализирует и оценивает поверхность сварных швов или плоских изделий, таких как прутки, ленты или профили. Серия SI является наиболее тщательным методом ...
... ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ СИСТЕМА ЗАВОДСКОГО КОНТРОЛЯ (SFIS) Компания API, признавая растущую потребность обрабатывающей промышленности в автоматизации измерений деталей с более высокой степенью точности, разработала систему Smart Factory Inspection System с ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки