Системы подготовки образца для SEM Leica

... путем изменения направления падающего FIB-направления. Новая разработанная система оценки полупроводниковых приборов состоит из системы FB2200 FIB и HD-2700 200 kV STEM. Система выполняет ...

... - Электрод магнетронного типа уменьшает повреждение образцов и снижает средний размер частиц - Дополнительная камера для образцов диаметром до 6 дюймов (150 мм) - Дополнительная проставка ...

... углеводородами на поверхности образца и облучающим электронным пучком приводит к загрязнению образца. Углеводороды обычно нековалентно прикрепляются к поверхности образца во время обработки, ...

... поперечного сечения, так и плоское фрезерование для подготовки образцов в зависимости от цели. Контроль температуры охлаждения, блок держателя для защиты воздуха и различные опции позволяют готовить образцы ...

... Самая современная система широкого ионного пучка для получения исключительно высококачественных образцов поперечного сечения или плоского фрезерования для электронной микроскопии. ArBlade 5000 оснащен ...

... использовании очистку для подготовки образцов перед анализом, обеспечивая получение наилучших данных из ваших образцов ТЭМ. Поверхности образцов неизбежно загрязняются ...

... нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный щит вокруг образца предотвращает замерзание молекул воды на образце - ...

... переноса образцов между различными системами подготовки и анализа, образцы должны быть защищены от загрязнения и образования кристаллов льда, вызванных недостаточной ...

... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет ...

... по организации рабочего процесса обеспечивают безопасную и эффективную передачу образцов на последующие инструменты подготовки или аналитические системы. Гибкая система ...

... TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 ...

... для массивной томографии с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Экономьте время и усилия при подготовке биологических образцов и процедуре настройки СЭМ, чтобы вы могли быстро получить ...

... подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой комфорт и хранение секций Нагретые стенки камеры ...

... использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего устройства или устройства для испарения углеродной нити, идеально воспроизводимые результаты могут быть достигнуты в полностью ...

... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE-SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического ...