- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Система подготовки образца для SEM
Системы подготовки образца для SEM
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Витрифицированные замороженные сооружения чрезвычайно чувствительны к воздействию окружающей среды и нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный щит вокруг образца ...
Leica Microsystems GmbH
... Загрузочная станция Leica EM VCM позволяет подключать различные методы подготовки к различным устройствам анализа, таким как Cryo- SEM, Cryo-TEM и Cryo-CLEM Leica EM VCM Подключиться - Все перемещения от загрузки образца под вакуумом - ...
Leica Microsystems GmbH
... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить едва видимые ...
Leica Microsystems GmbH
... Обновленная версия EM TIC 3X базируется на нашем девизе "с пользователем для пользователя" и сочетает в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Двойная скорость ионного фрезерования новейшего EM TIC 3X может быть дополнительно ...
Leica Microsystems GmbH
... Leica EM TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 оснащен системой управления подачей 1 мкм ...
Leica Microsystems GmbH
... Ультрамикротом UC Enuity Вам нужно получить тонкие или ультратонкие срезы для подготовки ЭМ-проб? Представляем UC Enuity, ультрамикротом нового поколения, который экономит ваше драгоценное время и ресурсы благодаря автоматизированным функциям настройки, ...
Leica Microsystems GmbH
... течение нескольких минут путем установки криокамеры Leica EM FC7 и подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой комфорт и ...
Leica Microsystems GmbH
... Производство однородных и проводящих металлических или углеродных покрытий для СЭМ и ТЭМ-анализа никогда еще не было так удобно, как при использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего устройства или устройства ...
Leica Microsystems GmbH
... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE- SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического слоя, - производят нанометровую ...
Leica Microsystems GmbH
... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическая система подготовки образцаIM4000 II
... IM4000 II - это модульная аргонно-ионная полировальная система с компьютерным управлением, которая может быть оснащена как чисто поверхностный полировальник, как полировальник поперечного сечения или как гибридная система, в зависимости от требуемой функциональности. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном направлении ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Платформа Centri® от Markes International - первая система, предлагающая высокочувствительный необслуживаемый отбор проб и предварительное концентрирование ЛОС и СЛОС в жидких, твердых и газообразных образцах. Используя передовую технологию улавливания ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo