Системы подготовки образца для SEM

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно ...

... IM4000 II - это модульная аргонно-ионная полировальная система с компьютерным управлением, которая может быть оснащена как чисто поверхностный полировальник, как полировальник поперечного сечения или как гибридная система, в зависимости ...

... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном ...

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно ...

... Витрифицированные замороженные сооружения чрезвычайно чувствительны к воздействию окружающей среды и нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный ...

... Загрузочная станция Leica EM VCM позволяет подключать различные методы подготовки к различным устройствам анализа, таким как Cryo-SEM, Cryo-TEM и Cryo-CLEM Leica EM VCM Подключиться - Все перемещения от загрузки образца ...

... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить ...

... Обновленная версия EM TIC 3X базируется на нашем девизе "с пользователем для пользователя" и сочетает в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Двойная скорость ионного фрезерования новейшего EM TIC 3X может ...

... Leica EM TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 оснащен системой управления ...

... Ультрамикротом UC Enuity Вам нужно получить тонкие или ультратонкие срезы для подготовки ЭМ-проб? Представляем UC Enuity, ультрамикротом нового поколения, который экономит ваше драгоценное время и ресурсы благодаря автоматизированным ...

... течение нескольких минут путем установки криокамеры Leica EM FC7 и подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой ...

... Производство однородных и проводящих металлических или углеродных покрытий для СЭМ и ТЭМ-анализа никогда еще не было так удобно, как при использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего ...

... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE-SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического слоя, - производят ...