Системы подготовки образца для SEM

... Витрифицированные замороженные сооружения чрезвычайно чувствительны к воздействию окружающей среды и нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный ...

... Загрузочная станция Leica EM VCM позволяет подключать различные методы подготовки к различным устройствам анализа, таким как Cryo-SEM, Cryo-TEM и Cryo-CLEM Leica EM VCM Подключиться - Все перемещения от загрузки образца ...

... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить ...

... Обновленная версия EM TIC 3X базируется на нашем девизе "с пользователем для пользователя" и сочетает в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Двойная скорость ионного фрезерования новейшего EM TIC 3X может ...

... Leica EM TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 оснащен системой управления ...

... Ультрамикротом UC Enuity Вам нужно получить тонкие или ультратонкие срезы для подготовки ЭМ-проб? Представляем UC Enuity, ультрамикротом нового поколения, который экономит ваше драгоценное время и ресурсы благодаря автоматизированным ...

... течение нескольких минут путем установки криокамеры Leica EM FC7 и подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой ...

... Производство однородных и проводящих металлических или углеродных покрытий для СЭМ и ТЭМ-анализа никогда еще не было так удобно, как при использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего ...

... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE-SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического слоя, - производят ...

... Sputter Coater - это прибор для подготовки образцов, предназначенный для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM). MC1000 предназначен для нанесения тонкого металлического покрытия, такого как платина ...

... Настольный очиститель образцов ZONESEMⅡ использует технологию очистки на основе ультрафиолетового излучения для минимизации или устранения углеводородного загрязнения для визуализации электронной микроскопии. Подготовка, обработка или ...

... поворота во время фрезерования поперечного сечения меняется соответствующая ширина и глубина обработки. На рисунке ниже показаны SEM-изображения пластины Si после поперечного фрезерования. Условия обработки такие же, ...

... Самая современная система широкого ионного пучка для получения исключительно высококачественных образцов поперечного сечения или плоского фрезерования для электронной микроскопии. ArBlade 5000 оснащен быстродействующей ионной пушкой ...

... Инновационный настольный очиститель образцов ZONETEM II использует технологию очистки на основе УФ-излучения для минимизации или устранения углеводородного загрязнения при формировании изображений электронной микроскопии. ZONE предлагает ...