Система подготовки образца полимера EM TIC 3X

для SEM

Обновленная версия EM TIC 3X базируется на нашем девизе "с пользователем для пользователя" и сочетает в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Двойная скорость ионного фрезерования новейшего EM TIC 3X может быть дополнительно расширена за счет пяти различных ступеней, адаптированных к Вашим требованиям. Воспроизводимые результаты ионного измельчения Система тройного фрезерования ионов EM TIC 3X позволяет производить сечения и плоские поверхности для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), анализа микроструктуры (EDS, WDS, Auger, EBSD) и АСМ-исследований. С помощью EM TIC 3X Вы получаете высококачественные поверхности практически любого материала при комнатной температуре или криогенных условиях, раскрывая внутренние структуры образца в максимально приближенном к естественному состоянии. Эффективность Что действительно важно для эффективности ионно-лучевой мельницы, так это превосходные качественные результаты при высокой пропускной способности. Недостаточно просто увеличить производительность фрезерования в 2 раза по сравнению с предыдущей версией, но уникальная система тройного пучка ионов оптимизирует качество приготовления и сокращает рабочее время. За один сеанс можно обработать до трех образцов. Поперечное сечение и шлифовка могут быть выполнены в один этап. Решения по организации рабочего процесса обеспечивают безопасную и эффективную передачу образцов на последующие инструменты подготовки или аналитические системы. Гибкая система - адаптируемая к вашим потребностям в любое время Гибкий выбор ступеней делает EM TIC 3X идеальным прибором не только для высокоскоростных сквозных испытаний, но и для контрактных лабораторий.