Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ.
Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить едва видимые цели.
С помощью шарнирного рычага образца можно наблюдать непосредственно под углом от 0° до 60° или 90° к передней поверхности для определения расстояния с помощью окулярной грациклы.
Основные характеристики
Интегрированный автоматический контроль процесса
Интегрированное управление процессом с автоматическим E-W-управлением, управление подачей с регулированием усилия и функция обратного отсчета избавляют пользователя от трудоемкой рутинной пробоподготовки.
Отделка поверхности и целевое обследование
Обработка поверхности и целевое исследование с помощью встроенного стереомикроскопа означает, что пользователю не нужно передавать образец для оценки расстояния и оценки поверхности, что повышает эффективность работы пользователя.
Разнообразие инструментальных вставок
Разнообразие вставок для инструмента позволяет фрезеровать, распиливать, сверлить, шлифовать и полировать образец без снятия образца с инструмента. Возможность наблюдать за процессом через стереомикроскоп позволяет сэкономить время и средства.
Инспекция многослойных проб
Рабочий процесс в области контроля качества: Сочетание системы наплавки мишеней Leica EM TXP и светового микроскопа Leica DM2700 M позволяет сократить необходимую процедуру, упростить рабочий процесс и получить надежные и точные результаты.
---