Автоматическая система подготовки образца EM TXP
для SEM

Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM - изображение - 2
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM - изображение - 3
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM - изображение - 4
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM - изображение - 5
Автоматическая система подготовки образца - EM TXP - Leica Microsystems GmbH - для SEM - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Режим использования
автоматическая
Применение
для SEM

Описание

Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить едва видимые цели. С помощью шарнирного рычага образца можно наблюдать непосредственно под углом от 0° до 60° или 90° к передней поверхности для определения расстояния с помощью окулярной грациклы. Основные характеристики Интегрированный автоматический контроль процесса Интегрированное управление процессом с автоматическим E-W-управлением, управление подачей с регулированием усилия и функция обратного отсчета избавляют пользователя от трудоемкой рутинной пробоподготовки. Отделка поверхности и целевое обследование Обработка поверхности и целевое исследование с помощью встроенного стереомикроскопа означает, что пользователю не нужно передавать образец для оценки расстояния и оценки поверхности, что повышает эффективность работы пользователя. Разнообразие инструментальных вставок Разнообразие вставок для инструмента позволяет фрезеровать, распиливать, сверлить, шлифовать и полировать образец без снятия образца с инструмента. Возможность наблюдать за процессом через стереомикроскоп позволяет сэкономить время и средства. Инспекция многослойных проб Рабочий процесс в области контроля качества: Сочетание системы наплавки мишеней Leica EM TXP и светового микроскопа Leica DM2700 M позволяет сократить необходимую процедуру, упростить рабочий процесс и получить надежные и точные результаты.

---

Каталоги

Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Страницы
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 Страницы
Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X
16 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

INNOTEQ

11-14 мар. 2025 Bern (Швейцария) Зал 3.2 - Стенд A09

  • Дополнительная информация
    Control 2025
    Control 2025

    6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия) Зал 9 - Стенд 9508

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Leica Microsystems GmbH

    EM Sample Preparation

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.