Автоматическая система подготовки образца EM TXP

для SEM

Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет точно определить и легко подготовить едва видимые цели. С помощью шарнирного рычага образца можно наблюдать непосредственно под углом от 0° до 60° или 90° к передней поверхности для определения расстояния с помощью окулярной грациклы. Основные характеристики Интегрированный автоматический контроль процесса Интегрированное управление процессом с автоматическим E-W-управлением, управление подачей с регулированием усилия и функция обратного отсчета избавляют пользователя от трудоемкой рутинной пробоподготовки. Отделка поверхности и целевое обследование Обработка поверхности и целевое исследование с помощью встроенного стереомикроскопа означает, что пользователю не нужно передавать образец для оценки расстояния и оценки поверхности, что повышает эффективность работы пользователя. Разнообразие инструментальных вставок Разнообразие вставок для инструмента позволяет фрезеровать, распиливать, сверлить, шлифовать и полировать образец без снятия образца с инструмента. Возможность наблюдать за процессом через стереомикроскоп позволяет сэкономить время и средства. Инспекция многослойных проб Рабочий процесс в области контроля качества: Сочетание системы наплавки мишеней Leica EM TXP и светового микроскопа Leica DM2700 M позволяет сократить необходимую процедуру, упростить рабочий процесс и получить надежные и точные результаты.