Система подготовки образца для SEM EM VCT500

Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 2
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 3
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 4
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 5
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 6
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 7
Система подготовки образца для SEM - EM VCT500 - Leica Microsystems GmbH - изображение - 8
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Применение
для SEM

Описание

С Leica EM VCT500 вы можете переносить пробы в криогенных условиях или при комнатной температуре, а также в вакууме или защищенной атмосфере. Leica EM VCT500 Оставаться на связи - Подключите ваши системы документооборота - Оптимизация переноса пробы благодаря активному охлаждению пробы и новой концепции клапана - Мониторинг пробы в отношении температуры и вакуума в любое время во время рабочего процесса, когда она находится в стыковке Почему вакуумный криоконвертер? Во время переноса образцов между различными системами подготовки и анализа, образцы должны быть защищены от загрязнения и образования кристаллов льда, вызванных недостаточной защитой. Почему Leica EM VCM и Leica EM VCT500? "Только хорошо сохранившиеся образцы дают свои секреты в электронном микроскопе". Leica EM VCM и Leica EM VCT500 дают Вам больше времени, лучший мониторинг и лучшую связь - шлюз в новые области применения" Вакуумная система манипулирования криосистема Leica EM VCM Загрузочная станция Leica EM VCM позволяет подключать различные методы подготовки к различным устройствам анализа, таким как Cryo-SEM, Cryo-TEM и Cryo-CLEM Leica EM VCM Подключиться - Все перемещения от загрузки образца под вакуумом - Подсветка, лупа, сушилка для инструментов и автоматическое пополнение LN2 способствуют обработке образцов без загрязнения - Улучшенное подключение, обеспечиваемое тремя держателями образцов и тремя вариантами переноса

---

Каталоги

Leica EM VCT500
Leica EM VCT500
2 Страницы
Leica EM ACE900
Leica EM ACE900
12 Страницы
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Control 2025
Control 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия) Зал 9 - Стенд 9508

  • Дополнительная информация
    EPHJ

    3-06 июн. 2025 Geneva (Швейцария)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Leica Microsystems GmbH

    EM Sample Preparation

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.