Система подготовки образца EM RES102

Система подготовки образца - EM RES102 - Leica Microsystems GmbH
Система подготовки образца - EM RES102 - Leica Microsystems GmbH
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Описание

Тонкие, чистые, полированные, вырезанные откосы и структурированные образцы с высочайшим уровнем гибкости в Leica EM RES102. Уникальная ионно-лучевая система фрезерования сочетает в себе подготовку образцов ТЭМ, СЭМ и ЛМ в одной настольной установке. Разнообразие держателей образцов позволяет выполнять различные задачи. В дополнение к высокоэнергетическому фрезерованию ионным пучком, Leica EM RES102 также может использоваться для очень щадящей обработки образцов с использованием низкой энергии ионов. Основные характеристики Эффективно и экономично - Одна система для применений TEM, SEM и LM - SEM-приготовление образцов диаметром до 25 мм - Повышение эффективности подготовки проб ТЭМ с производством больших электронных прозрачных участков для ТЭМ-анализа - Возможность локальной сети для дистанционного управления и мониторинга Безопасный сайт Полностью программно управляемый моторизованный источник ионов и движения образца для воспроизводимых результатов местные образцы LN2 охлаждение ступени образца для поддержания целостности чувствительных к температуре образцов Простота эксплуатации - Интегрированная библиотека приложений - Встроенные справочные файлы и обучающие видеоролики для начинающих и техобслуживания

---

Каталоги

Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Страницы
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 Страницы

Другие изделия Leica Microsystems GmbH

EM Sample Preparation

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.