Системы подготовки образца для SEM HItachi

3 компании | 14 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
ZoneSEM Ⅱ

... загрязнения являются сами объекты наблюдения и держатели образцов. Здесь плазменная обработка часто оказывается слишком грубой и приводит к изменению или даже разрушению образца. Очистители ZONE от Hitachi ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
IM4000 II

... углах наклона от 0° до 90°, угол может быть изменен во время процесса - Большая камера для образцов с полностью выдвижным многоосевым столиком, прикрепленным к двери камеры для размещения ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
ArBlade 5000 / IM5000-CTC

... нескольких отдельных позиций также возможна в качестве опции; дополнительный держатель для нескольких образцов позволяет автоматически обрабатывать до 3 образцов. ArBlade 5000 / IM5000 оснащен более ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
ZoneTEM II

... загрязнения являются сами объекты наблюдения и держатели образцов. Здесь плазменная обработка часто оказывается слишком грубой и приводит к изменению или даже разрушению образца. Очистители ZONE от Hitachi ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
система подготовки образца полимера
система подготовки образца полимера
EM ACE900

... нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный щит вокруг образца предотвращает замерзание молекул воды на образце - ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM VCT500

... переноса образцов между различными системами подготовки и анализа, образцы должны быть защищены от загрязнения и образования кристаллов льда, вызванных недостаточной ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
EM TXP

... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца полимера
система подготовки образца полимера
EM TIC 3X

... по организации рабочего процесса обеспечивают безопасную и эффективную передачу образцов на последующие инструменты подготовки или аналитические системы. Гибкая система ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM TRIM2

... TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
UC Enuity Ultramicrotome

... Ультрамикротом UC Enuity Вам нужно получить тонкие или ультратонкие срезы для подготовки ЭМ-проб? Представляем UC Enuity, ультрамикротом нового поколения, который экономит ваше драгоценное время и ресурсы благодаря автоматизированным ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для производства тонких пленок
система подготовки образца для производства тонких пленок
EM FC7

... подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой комфорт и хранение секций Нагретые стенки камеры ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
EM ACE200

... использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего устройства или устройства для испарения углеродной нити, идеально воспроизводимые результаты могут быть достигнуты в полностью ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для производства тонких пленок
система подготовки образца для производства тонких пленок
EM ACE600

... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE-SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
Centri®

... Платформа Centri® от Markes International - это первая система, обеспечивающая высокочувствительный отбор проб и предварительное концентрирование ЛОС и СЛОС в жидких, твердых и газообразных образцах. ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки