＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... инфраструктуру Setup 2.0 для масштабируемого улучшения настройки рецептов контроля, а также связь DualSENS™ между оптическим инспектором 3935 и системами электронно-лучевого контроля для повышения чувствительности ...
KLA Corporation
... и квалификация резистов
Система и программная экосистема
- Интеграция
KLA Corporation
... обнаруживать дефекты и выявлять скрытые дефекты надежности при производстве микросхем для автомобильной промышленности, IoT, 5G, бытовой электроники и промышленности (военной, аэрокосмической, медицинской). Инспекторы ...
KLA Corporation
... передовых инструментов для проверки и анализа дефектов на пластинах, Puma 9980 обеспечивает высочайшую производительность для контроля темпов производства за счет улучшения захвата типов дефектов на усовершенствованных слоях паттернинга. ...
KLA Corporation
... входящие в состав системы CIRCL5 последнего поколения, включают: контроль дефектов передней стороны пластины; контроль дефектов края пластины, профилирование, метрологию и обзор; контроль и обзор дефектов ...
KLA Corporation
... материалов и подложек путем квалификации и контроля инструментов, процессов и материалов, включая те, которые используются для EUV-литографии. Используя DUV-лазер и оптимизированные режимы контроля, Surfscan SP7XP обеспечивает ...
KLA Corporation
... обзор и классификация дефектов электронных балочных пластин Система обзора и классификации дефектов электронно-лучевых пластин eDR7380™ поддерживает производство пластин и микросхем для широкополосных полупроводников. ...
KLA Corporation
... литографам точно отслеживать производительность наложения устройства. Области применения Контроль наложения на изделие, мониторинг на линии, квалификация сканера, контроль шаблонов, критический размер (CD) в режиме Brightfield Система ...
KLA Corporation
... царапин. Контроль качества подложек, сравнение поставщиков подложек, входной контроль качества (IQC), выходной контроль качества (IQC), контроль процесса CMP (химико-механический процесс) ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки