＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Scientific ChemiSEM интегрирует возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS) непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, что упрощает анализ и помогает получать надежные результаты с минимальной погрешностью ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет пробел между световой ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для высокого и низкого ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... идти на компромисс с производительностью визуализации и вариативностью детектора. Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый ...
Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
... как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов ...
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, ...
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком ...
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение ...
Увеличение : 1 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5 nm - 5 nm
Длина: 926 mm
... автоматическая фокусировка, автоматический стигматор В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) CIQTEK SEM3300 применены такие технологии, как электронная оптика "Super-Tunnel", ...
Четкая видимость способствует новым открытиям В настоящее время важными считаются не только разрешение и аналитические характеристики порядка нанометров, но и скорость сбора данных. Новорожденный JSM-IT710HR — это модель четвертого ...
Jeol
... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN VEGA с источником электронов на основе вольфрамовой нити сочетает в одном окне программного обеспечения ...
Tescan GmbH
... обеспечивает документирование поверхности детали для выявления неровностей. Сканирующий электронный микроскоп | SEM | Microhone | CNC Tooling Сканирующий ...
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось