Электронные сканирующие микроскопы Jeol

1 Компания | 5 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JSM-7900F

Увеличение : 3 500 unit - 100 000 unit

... замедляет освещенный электронный пучок и ускоренный электронный сигнал, используя напряжение смещения для образца. Новый детектор обратно рассеянных электронов Недавно разработанный ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп SEM
микроскоп SEM
JSM-IT200 InTouchScope™

... JSM-IT200 - это простой в использовании РЭМ, ориентированный на экономичное выполнение высоких функциональных возможностей JSM-IT500 (модель высшего класса) InTouchScopeTM, со значительно большей пропускной способностью. Функция Specimen ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JCM-7000 NeoScope™

... высокой степени аналитических и измерительных возможностей. Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции "Простой в использовании SEM ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
miXcroscopy™

... помощью сканирующего электронного микроскопа для наблюдения тонких структур с большим увеличением и большим разрешением. Объекты наблюдения, найденные с помощью оптического микроскопа, ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп SEM
микроскоп SEM
JIB-4700F

Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,2, 4, 1,6 nm

... гарантированное разрешение 1,6 нм при низком ускоряющем напряжении 1 кВ. Используя "эмиссионную электронную пушку Шоттки в линзе", которая производит электронный пучок с максимальным током зонда 300 нА, ...

Показать другие изделия
Jeol
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки