- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Прибор для контроля для полупроводниковой пластины с рисунком структуры
Приборы для контроля для полупроводниковых пластин с рисунком структуры
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
оптический прибор для контроля39 series
... Широкополосные системы плазменного контроля дефектов 3935 и 3920 EP обеспечивают обнаружение дефектов на уровне пластин, изучение выхода продукции и поточный контроль для логики ≤5 нм и передовых узлов проектирования памяти. Благодаря источнику света ...
KLA Corporation
... Обзор
Комплексные системы инспекции и ревью дефектов на вафлях для обнаружения, классификации и мониторинга рисунковых и поверхностных дефектов в НИОКР и серийном производстве. Платформы объединяют широкополосное оптическое освещение (включая ...
KLA Corporation
... Широкополосные плазменно-оптические инспекторы дефектов серии C30x позволяют систематически обнаруживать дефекты и выявлять скрытые дефекты надежности при производстве микросхем для автомобильной промышленности, IoT, 5G, бытовой электроники и промышленности ...
KLA Corporation
... Лазерная сканирующая инспекционная система Puma™ 9980 включает в себя многочисленные улучшения чувствительности и скорости, которые позволяют фиксировать критические дефекты, представляющие интерес (DOI), с производительностью, необходимой для крупносерийного ...
KLA Corporation
... Метрологическая система Archer™ 800 обеспечивает точную обратную связь для определения погрешности наложения на изделии, что позволяет быстро переходить на новые технологии и стабильно производить передовые устройства памяти и логики. Возможность настройки ...
KLA Corporation
оптический прибор для контроляAIVR 5μ
... Описание
AIVR — это CIMS-станция верификации на базе ИИ, объединяющая виртуальную и физическую верификацию в одной рабочей станции. CIMS AIVR 5μ разработана для поддержки крупносерийного производства IC-подложек и оптимизирована для верификации ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки