＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Широкополосные системы плазменного контроля дефектов 3935 и 3920 EP обеспечивают обнаружение дефектов на уровне пластин, изучение выхода продукции и поточный контроль для логики ≤5 нм и передовых узлов ...
KLA Corporation
... и квалификация резистов
Система и программная экосистема
- Интеграция
KLA Corporation
... для обнаружения критических дефектов на различных технологических слоях и типах устройств. Технология NanoPoint™ фокусирует контроль на областях деталей с высоким риском отказов надежности, предоставляя оперативные данные о дефектах, ...
KLA Corporation
... NAND. Являясь частью портфеля передовых инструментов для проверки и анализа дефектов на пластинах, Puma 9980 обеспечивает высочайшую производительность для контроля темпов производства за счет улучшения захвата типов ...
KLA Corporation
... поверхности пластин и обеспечивающих параллельный сбор данных с высокой производительностью для эффективного управления процессом. Модули, входящие в состав системы CIRCL5 последнего поколения, включают: контроль дефектов ...
KLA Corporation
... толстых пленок. Квалификация процессов, квалификация инструментов, мониторинг инструментов, контроль качества исходящих пластин, контроль качества входящих пластин, квалификация резистов ...
KLA Corporation
... обзор и классификация дефектов электронных балочных пластин Система обзора и классификации дефектов электронно-лучевых пластин eDR7380™ поддерживает производство пластин и микросхем для широкополосных ...
KLA Corporation
... литографам точно отслеживать производительность наложения устройства. Области применения Контроль наложения на изделие, мониторинг на линии, квалификация сканера, контроль шаблонов, критический размер (CD) в режиме Brightfield Система ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки