＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Микроскоп MuVi с селективной плоскостной подсветкой (SPIM) от Bruker - самая быстрая многоракурсная система на рынке. MuVi включает в себя многолетние инновации технологии светового листа Luxendo для обеспечения высокоскоростной ...
... соответствия всем требованиям пользователей • Модульная конструкция — соберите свою персональную систему Удобство и простота использования Микроскоп BX53M упрощает процесс выполнения сложных задач ...
Evident - Olympus Scientific Solutions
Пространственное разрешение: 0,2 µm
Вес: 9 kg
Длина: 587 mm
... механизму крепления модуль может быть установлен на оптической скамье, стандартной стойке или интегрирован в вашу систему микроскопа. Моторизованная револьверная головка Высокоскоростная моторизованная револьверная ...
Evident - Olympus Scientific Solutions
Пространственное разрешение: 0,2 µm
Вес: 6,2 kg
Длина: 334 mm
BXFM-S — экономичное компактное фокусное крепление для светлопольной микроскопии. Фокусное крепление можно использовать для оптического стола, плоской подставки или системной интеграции благодаря компактной конструкции ...
Evident - Olympus Scientific Solutions
... разрушения (LIBS) позволяет получить точный химический отпечаток структуры материала, который вы видите на изображении под микроскопом - в течение одной секунды. - 2 системы в 1 для визуального и химического анализа - ...
Leica Microsystems GmbH
... Этот материальный микроскоп сочетает в себе высококачественную оптику Leica и современную универсальную светодиодную подсветку с белым светом. Это идеальный инспекционный инструмент для выполнения всех видов рутинных ...
Leica Microsystems GmbH
... основано на новейшей светодиодной технологии и полностью интегрировано в микроскоп. Низкое тепловое излучение и интеграция в подставку обеспечивают оптимальный поток воздуха вокруг микроскопа. Долгий ...
Leica Microsystems GmbH
Увеличение : 50 unit - 2 000 unit
TIM5 используется металлургами и материаловедами всего мира. Он позволяет обследовать, регистрировать и документировать мельчайшие подробности, важные для точного контроля и оценки. TIM5 упрощает работу со сплавами, пластмассой, керамикой ...
... В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать ...
... Микроскоп для визуального анализа изображений поперечного сечения обжимных соединений. - Точные результаты в режиме реального времени - Простое подключение и установка с помощью стандартного ПК - Четкое освещение с ...
Увеличение : 40 unit - 2 000 unit
... Окуляры M-781 - Окуляр PL10x/22, высокая точка, с микрометрической шкалой (10 мм/100 мкм) и резиновой чашкой (выдвижная) M-1001 - Окуляр PL10x/22 (пара), высокая точка, с резиновой чашкой (выдвижная) M-1003 - Окуляры PL15x/16 (пара), ...
Optika Srl
... для проведения многочисленных анализов. Инвертированный микроскоп начального уровня для общего назначения для испытаний на твердость. Инвертированный микроскоп для промышленности и материаловедения, ...
... Ценный и прочный измерительный микроскоп для инструментальщиков с поворотной колонной, бинокулярным тубусом и блестящей телецентрической оптикой. Модульная концепция обеспечивает гибкие индивидуальные ...
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. ...
ZEISS Métrologie industrielle
Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает ...
Nikon Metrology
... Бесполевой аналитический UHR SEM для характеризации материалов в наноразмерном масштабе - Бескомпромиссная характеристика всех типов материалов на наноразмерном уровне - Идеально подходит для характеризации материалов ...
Tescan GmbH
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия ...
... Используя превосходную бесконечную оптическую систему и модульную концепцию проектирования функций, можно легко модернизировать систему и реализовать поляризованное наблюдение за световыми и темными полями. Компактный ...
Длина: 340 mm
Ширина: 240 mm
Высота: 365 mm
... Ваш модульный вертикальный микроскоп для научных исследований, расширенной рутинной работы и патологии. Используйте исключительную гибкость для сложных рутинных исследований. Исследуйте образцы тканей ...
Hitech Instruments
... МОДУЛЬНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СЛЕДОВ FfTA - это мощная и гибкая многофункциональная система, которая предоставляет криминалистической лаборатории целый ряд аналитических возможностей на одном микроскопе, ...
... наконечника для точности измерения шероховатости поверхности, широкий диапазон режимов сканирования с высоким разрешением и модульную конструкцию. NX20 широко используется в полупроводниковой промышленности и производстве ...
Пространственное разрешение: 5 µm
... Создайте свою 150-мм зондовую станцию на основе гибких модулей по невероятной цене! Компания FormFactor представляет новую модульную концепцию для своих лучших в своем классе 150-мм зондовых станций. Это еще больше упростит ...
Увеличение : 10 unit - 1 000 unit
... KMA 1 - компактный микроскоп с отраженным светом Компактная, модульная микроскопическая система для мобильного использования - ∞ бесконечно корректируемая оптика Этот компактный микроскоп ...
ASKANIA Mikroskop Technik Rathenow GmbH
Пространственное разрешение: 100 nm - 6 000 000 nm
... UKAS по стандартам ISO6506 и ASTM E10. В серию автономных автоматических микроскопов BRINtronic входит серия микроскопов Brinell: - Полностью автоматический портативный микроскоп ...
Пространственное разрешение: 3 µm - 100 µm
... Самый гибкий атомно-силовой микроскоп для исследования материалов Самая гибкая из доступных сканирующих головок Подходит для любого размера выборки Модульная концепция: настройте ваш FlexAFM в точном ...
Пространственное разрешение: 1 nm
... Моторизированные инвертированные микроскопы MVR микроскопы Забера снижают барьеры для автоматизированной микроскопии. Объединяя прецизионное управление движением Zaber с оптикой мирового ...
Пространственное разрешение: 1 nm
... Моторизованные вертикальные микроскопы Zaber серии MSR разработаны для снижения барьеров на пути к автоматизированной микроскопии. Сочетая в себе прецизионное управление движением Zaber и оптику мирового ...
Пространственное разрешение: 0,05, 0,2 nm
Конструкция «все в одном», продуманная структура и форма. Сканирующая головка и предметный столик для образцов спроектированы вместе, обладают сильными антивибрационными характеристиками. Точное лазерное обнаружение и устройство выравнивания ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось